На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыРФЭ и Оже-спектрометрыНано-ИК и нано-ТАСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

рфэ и оже-спектрометры

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.

 

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Системы сверхвысокого вакуума для электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) О методе: Фотоэлектронная спектроскопия или РФЭС — это метод изучения строения вещества, основанный на анализе энергетических спектров электронов, полученных в результате фотоэффекта.

По спектру РФЭС можно определить энергию связи электронов, находящихся на различных орбиталях (остовных или валентных). В фотоэлектронной спектроскопии применяется монохроматизированное рентгеновское или ультрафиолетовое излучение с энергией фотонов от десятков тысяч до десятков эВ. Спектр фотоэлектронов регистрируется при помощи электронных спектрометров высокого разрешения (в настоящее время достигнуто разрешение менее десятых долей эВ в рентгеновской области и менее сотых долей эВ в ультрафиолетовой области). Метод фотоэлектронной спектроскопии может использоваться для исследования веществ в газообразном, жидком и твёрдом состоянии и позволяет исследовать валентные или остовные электронные оболочки атомов и молекул, а также уровни энергии электронов в твёрдом теле (структуру валентной зоны). Энергия электронов, находящихся на внутренних уровнях, зависит от химического окружения и типа химической связи, поэтому фотоэлектронная спектроскопия успешно применяется в аналитической химии для определения качественного и количественного состава вещества и в физической химии для исследования особенностей химической связи.

В химии методы электронной спектроскопии также известны под названием ЭСХА — электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA — electronic spectroscopy for chemical analysis). Основные приложения метода: качественное определение присутствия химических элементов (все элементы, начиная с Li), анализ химического состояния обнаруженных элементов, исследование зонной структуры, исследование распеределения элементов по глубине (профилирование) и по поверхости (картирование), фазовый состав, анализ примесей и дефектов и др). За дополнительной информацией, пожалуйста, обращайтесь к нашим специалистам!  

Theta Probe

Спектрометр Theta Probe в стандартной конфигурации
РФЭС спектрометр с угловым разрешением. Единственный в мире прибор такого рода с разрешением по глубине 0.1 нм.
K-Alpha+

РФЭС спектрометр K-Alpha+
Полностью интегрированный РФЭС спектрометр последнего поколения.
Nexsa

Новейший автоматизированный фотоэлектронный спектрометр, в котором интегрирован целый ряд аналитических методик для комплексного анализа поверхности и покрытий
Escalab Xi+

Escalab Xi+ - высокопроизводительный комбинированный фотоэлектронный спектрометр с возможностью количественной визуализации
Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Системные компоненты и аксессуары для приборов представлены различными типами анализаторов, рентгеновских и ультрафиолетовых источников, электронных и ионных пушек, оптикой и дополнительными аксессуарами, что позволяет создать систему, отвечающую любым требованиям.
Multilab 2000

Multilab 2000
Многофункциональный спектрометр для проведения рутинного анализа поверхности
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ]


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design