Анализ поверхности и наноструктурВ данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)
Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.
Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.
Производители
|
 | |
 | Оптические и стилусные профилометры | |
Оптические и стилусные профилометры. Оптические и стилусные профилометры для анализа поверхности различных материалов и покрытий. Полная линейка оборудования для 2D и 3D анализа поверхности - от недорогих и надёжных стилусных систем до бесконтактных оптических профилометров-интерферометров исследовательского класса. Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы. |
| | | Наномеханические испытания | |
Оборудование KLA-Tencor для наномеханических испытаний обеспечивает надежные результаты в широком динамическом диапазоне с высоким разрешением. |
| | | РФЭ и Оже-спектрометры | |
Системы сверхвысокого вакуума для анализа поверхности с использованием различных видов электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) ведущего мирового производителя ThermoFisher Scientific (ранее VG Scientific). Системы позволяют проводить полный спектр исследований при помощи методов электронной спектроскопии (качественный и количественный анализ состава поверхности, анализ различных химических состояний, исследование зонной структуры, химическая микроскопия, построение профилей распределения концентраций и т.д.). |
| | | | | Субмикронная ИК-спектроскопия | |
Cистемы для субмикронной ИК спектроскопии американской фирмы Photothermal Spectroscopy Corp позволяют проводить исследование поверхности, комбинируя наглядность метода атомно-силовой микроскопии с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии, и получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца с микронным пространственным разрешением! |
| | | Сканирующая зондовая микроскопия | |
Атомно-силовые микроскопы - высокотехнологичное диагностическое оборудование для исследования различных свойств поверхности с атомным разрешением. Широкий спектр зондовых методик позволяет получать: распределение элементного состава, топографию (дефектность), электрические и магнитные свойства поверхности на атомном уровне и др., а также их комбинации. |
| | | | | | | Зонды АСМ | |
Зонды и кантилеверы для атомно-силовых и сканирующих зондовых микроскопов |
| | | Виброзащита высокоточного оборудования | |
Решения для вибрационной защиты высокоточных систем и оборудования от Kinetic Systems. Раздел находится в разработке. По всем вопросам обращайтесь в офисы компании. |
| | | |
|
