Внимание! Сайт находится на реконструкции, некоторые разделы могут не работать. Приносим извинения за неудобства.
 |
info@intertech-corp.ru service@intertech-corp.ru |
|
 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Общелабораторное оборудование | |
Термический анализ и реология | |
Анализ в управлении технологическими процессами | |||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Анализ поверхности и наноструктурВ данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.) Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне. Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.
Производители
|
|
||||||||||||||||||||
| О компании | Новости | Оборудование | ЛИМС | Комплексные проекты | Библиотека | Сервис | Вакансии |
| Тел/факс:(495)232-4225 E-mail:info@intertech-corp.ru |
Политика кофиденциальности | Создание сайта Wilmark Design |
|