На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.

 

 

Производители
KLA-Tencor

VLSI Standards

Photothermal Spectroscopy Corp

Thermo Fisher Scientific

Asylum Research

Ближайшие семинары
15.10.2018 - 19.10.2018
Обучающий семинар по ИСП-МС
г. Санкт-Петербург, ООО "Институт Гипроникель"
Читать далее»
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Оптические и стилусные профилометры

Оптические и стилусные профилометры. Оптические и стилусные профилометры для анализа поверхности различных материалов и покрытий. Полная линейка оборудования для 2D и 3D анализа поверхности - от недорогих и надёжных стилусных систем до бесконтактных оптических профилометров-интерферометров исследовательского класса. Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы.
Наномеханические испытания

Оборудование KLA-Tencor для наномеханических испытаний обеспечивает надежные результаты в широком динамическом диапазоне с высоким разрешением.
РФЭ и Оже-спектрометры

Системы сверхвысокого вакуума для анализа поверхности с использованием различных видов электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) ведущего мирового производителя ThermoFisher Scientific (ранее VG Scientific). Системы позволяют проводить полный спектр исследований при помощи методов электронной спектроскопии (качественный и количественный анализ состава поверхности, анализ различных химических состояний, исследование зонной структуры, химическая микроскопия, построение профилей распределения концентраций и т.д.).
Субмикронная ИК-спектроскопия

Cистемы для субмикронной ИК спектроскопии американской фирмы Photothermal Spectroscopy Corp позволяют проводить исследование поверхности, комбинируя наглядность метода атомно-силовой микроскопии с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии, и получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца с микронным пространственным разрешением!

Сканирующая зондовая микроскопия

Атомно-силовые микроскопы - высокотехнологичное диагностическое оборудование для исследования различных свойств поверхности с атомным разрешением. Широкий спектр зондовых методик позволяет получать: распределение элементного состава, топографию (дефектность), электрические и магнитные свойства поверхности на атомном уровне и др., а также их комбинации.

Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности

Стандарты для калибровки оборудования для определения высоты ступеней, толщины пленок, топографии поверхности, размера частиц, электрических характеристик
Зонды АСМ

Зонды и кантилеверы для атомно-силовых и сканирующих зондовых микроскопов

Виброзащита высокоточного оборудования

Решения для вибрационной защиты высокоточных систем и оборудования от Kinetic Systems. Раздел находится в разработке. По всем вопросам обращайтесь в офисы компании.
 
О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design