Анализ поверхности и наноструктурВ данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)
Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.
Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.
Производители
|
 | |
 | Оптические и стилусные профилометры | |
Оптические и стилусные профилометры. Оптические и стилусные профилометры для анализа поверхности различных материалов и покрытий. Полная линейка оборудования для 2D и 3D анализа поверхности - от недорогих и надёжных стилусных систем до бесконтактных оптических профилометров-интерферометров исследовательского класса. Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы. | |
| | | РФЭ и Оже-спектрометры | |
Системы сверхвысокого вакуума для анализа поверхности с использованием различных видов электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) ведущего мирового производителя ThermoFisher Scientific (ранее VG Scientific). Системы позволяют проводить полный спектр исследований при помощи методов электронной спектроскопии (качественный и количественный анализ состава поверхности, анализ различных химических состояний, исследование зонной структуры, химическая микроскопия, построение профилей распределения концентраций и т.д.). | |
| | | | | | | | | | | Виброзащита высокоточного оборудования | |
Решения для вибрационной защиты высокоточных систем и оборудования от Kinetic Systems. Раздел находится в разработке. По всем вопросам обращайтесь в офисы компании. | |
| | |
|
