На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыРФЭ и Оже-спектрометрыНано-ИК и нано-ТАСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

оптические и стилусные профилометры

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.

 

Производители
KLA-Tencor

Ближайшие семинары
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы.

Оптические профилометры MicroXAM

Оптический профилометр (интерферометр) MicroXAM-800
Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности
Оптические профилометры Zeta Instruments

Оптический профилометр Zeta-20

Оптические профилометры на основе уникальной технологии ZDot, обеспечивающей полноцветные изображения поверхности материалов и не имеющей ограничений применения интерферометрии

Настольный оптический профилометр Zeta-20

Оптический профилометр Zeta-20
Бесконтактный оптический профилометр на основе технологии ZDot для исследований и разработок

 

Напольная система Zeta-300

Оптический профилометр Zeta-300
Бесконтактный оптический профилометр на основе технологии ZDot с системой вибро- и акустической изоляции для промышленного применения
Оптический профилометр Zeta-388

Напольный оптический профилометр с кассетной загрузкой для автоматической инспекции и метрологии
Стилусные профилометры Alpha-Step D-series

Технические характеристики мирового класса и доступная цена
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ]


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design