Анализ поверхности и наноструктур - оптические и стилусные профилометрыВ данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)
Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.
Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.
Производители
|
Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы.
 | Оптические профилометры MicroXAM | |
Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности | |
| | | | | | | Стилусный профилометр P-7 | |
Обновленный настольный стилусный профилометр исследовательского класса для инспекции поверхности при производстве высокотехнологичной продукции. | |
| | | | | | | |
|
|
