На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры Наномеханические испытания РФЭ и Оже-спектрометры Системы микроанализа для электронных микроскопов Субмикронная ИК-спектроскопия Сканирующая зондовая микроскопия Анализаторы толщины пленок Filmetrics Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Оптические и стилусные профилометры - Стилусные профилометры Alpha-Step D-series

Производители
KLA-Tencor

Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
30.03.2021 - 01.04.2021
Выставка "Композит Экспо-2021"
г. Москва, ЦКВ Экспоцентр, пав.1, стенд №1К15
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Стилусные профилометры Alpha-Step D-series


Производитель: KLA-Tencor
Стилусные профилометры Alpha-Step D-series

Стилусный профилометр Alpha-Step ® D-100

Стилусный профилометр Alpha-Step® D-100  позволяет быстро получать 2D-топографию поверхности и высчитывать её характеристики. Профилометр Alpha-Step® D-100  обеспечивает диапазон перемещения по вертикали в 800 микрон (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, столик для установки образцов с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.

 Графический интерфейс Alpha-Step® D-100  является мультидокументным и позволяет отображать данные сканирования одновременно с процессом сканирования, что дает возможность пользователю анализировать данные и одновременно выполнять дополнительные измерения.

 

Програмное обеспечение Alpha-Step® D-100  позволяет автоматически расставлять уровни на полученных изображениях, измерять параметры изображений и выводить полученные результаты в удобном виде таблицы пригодной для использования в MS Excel. В интерфейсе Alpha-Step® D-100 все окна являются независимыми, это означает что и панели управления, и окна вывода данных, и окна сканирования в реальном времени, а так же окна с итоговыми результатами сканирования могут быть размещены в любом месте экрана. Эта особенность делает интерфейс Alpha-Step® D-100 гибким и мощным инструментом для получения и анализа данных.

Технические характеристики Alpha-Step ® D-100:

  • Длина получаемого изображения 30 мм;
  • Диапазон перемещения по вертикали до 1,2 мм;
  • Круглый предметный столик (радиус 140 мм) для ручной установки образца;
  • Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 10 мг;
  • Программное обеспечение совместимое с ОС Windows XP, Vista, и Windows 7.

Стилусный профилометр Alpha-Step ® D-120

 

 

 

 

 

Стилусный профилометр Alpha-Step ® D-120 предоставляет широкий спектр применений для научно-исследовательской деятельности благодаря своим выдающимся характеристикам: диапазон перемещения по вертикали составляет 1.2 мм, суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в 6 ангстрем (или 0,1 % от номинальной высоты), предметный столик радиусом 200 мм с двухкоординатным сервоприводом, а так же многое другое.

 

Благодаря сервоприводам предметного столика профилометр Alpha-Step ® D-120 позволяет проводить автоматические измерения в различных координатах образца. В качестве дополнительного оборудования для Alpha-Step ® D-120  предлагается камера с зум-объективом и 4-х кратным увеличением для абсолютно точной визуализации образца. Профилометр Alpha-Step ® D-120 является чрезвычайно полезным, как для исследовательских, так и для производственных применений, сочетая в себе выдающиеся характеристики и разумную цену.

Графический интерфейс Alpha-Step ® D-120  является мультидокументным и позволяет отображать данные сканирования одновременно с процессом сканирования, что дает возможность пользователю анализировать данные и одновременно выполнять дополнительные измерения.

Програмное обеспечение Alpha-Step ® D-120  позволяет автоматически расставлять уровни на полученных изображениях, измерять параметры изображений и выводить полученные результаты в удобном виде таблицы пригодной для использования в MS Excel. В интерфейсе Alpha-Step ® D-120  все окна являются независимыми, это означает что и панели управления, и окна вывода данных, и окна сканирования в реальном времени, а так же окна с итоговыми результатами сканирования могут быть размещены в любом месте экрана. Эта особенность делает интерфейс Alpha-Step ® D-120  гибким и мощным инструментом для получения и анализа данных.  

 Технические характеристики Alpha-Step D-120:

  • Длина получаемого изображения 55 мм;
  • Диапазон перемещения по вертикали до 1,2 мм;
  • Предметный столик радиусом 200 мм с сервоприводами для установки образца (диапазон перемещений 150Х178 мм;
  • Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 10 мг;
  • Программное обеспечение совместимо с ОС WindowsXP, Vista, и Windows 7. 

Стилусные профилометры Alpha-Step D-series – разработка компании KLA-Tencor  - обеспечивают комплексное решение задач инженерного и исследовательского профиля. Серия профилометров D-series разработана с целью удовлетворить разнообразные запросы клиентов посредством выпуска приборов с широким спектром возможностей, интеграцией в них инновационных технологий и повышенной производительностью. Ниже приводится сравнительная характеристика приборов Alpha-Step D-series.

 

  Основными областями применения для Alpha-Step D-series являются:

  • Исследования текстуры поверхности;
  • Напряжение тонких пленок;
  • Исследование биологических объектов;
  • Микроэлектромеханические системы;
  • Характеристика свойств материалов;
  • Прецизионное измерение вертикальных ступенек на поверхности;
  • Исследование шероховатости и дефектности поверхности.

 


Назад


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design