На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

анализаторы толщины пленок filmetrics

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.

 

 

Производители
Ближайшие семинары
15.10.2019 - 18.10.2019
Дополнительный курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

В 2019 году компания KLA, мировой лидер в производстве аналитического и инспекционного оборудования для полупроводниковой промышленности и микроэлектроники, приобрела компанию Filmetrics – производителя систем измерения толщины пленок на основе рефлектометрии и бюджетных оптических профилометров.

В линейке анализаторов толщины пленок представлены разнообразные модели – от простых моделей для измерений в одной точке до автоматизированных систем, предназначенных для картирования поверхности. Кроме того, имеются специальные модели анализаторов для встраивания в системы напыления и иные производственные единицы.

Работа анализаторов (определителей) толщины Filmetrics основана на методе спектрального отражения (рефлектометрии)

Измеряя спектр света, отраженного от границы раздела прозрачной пленки и подложки, можно рассчитать толщину пленки по указанной формуле.

Для каких задач и объектов предназначены анализаторы толщины пленок Filmetrics?

  • Прозрачные (в видимом, ближнем ИК или УФ диапазонах) пленки толщиной от нескольких нм до единиц мм.
  • С известным коэффициентом преломления (метод не позволяет анализировать толщину пленок неизвестного состава)
  • Пленки на плоских или изогнутых поверхностях (включая линзы, лампы, оптические изделия)   

В зависимости от модели анализатора и задачи может проводиться анализ в точке, картирование толщины пленки или анализ толщины при помощи оптического микроскопа. Богатый выбор различных аксессуаров делает данный метод максимально универсальным.

Анализаторы толщины позволяют не только определять толщину пленок, но и измерять поглощение или пропускание в выбранном диапазоне (например, для анализа антиотражающих покрытий в оптике).

Отличительные черты анализаторов толщины Filmetrics:

  • Невысокая стоимость
  • Надежность и воспроизводимость измерений
  • Модульная структура (возможность использовать разные источники и детекторы в подходящей комбинации)
  • Простота (не требуют отдельной инсталляции, настройка занимает буквально 5 минут после удаления упаковки прибора)
  • Интуитивно понятное программное обеспечение
  • Бесплатные онлайн-видео по настройке, запуску и использованию оборудования
  • Поддержка 24/7 в онлайн-режиме 

 

Основные модели анализаторов толщины пленок Filmetrics:

Для точечных измерений

F20 – самая популярная базовая модель анализатора толщины

F3-sX – анализатор толщины полупроводников и диэлектриков

F3-CS – для небольших образцов

F10AR – анализатор толщины для изогнутых поверхностей и линз

F10ARc – компактный анализатор для изогнутых поверхностей

F10-RT – для одновременного определения пропускания и отражающей способности

Малый размер пятна

F40 – анализатор для встраивания в оптический микроскоп

Автоматизированное картирование

F50 – автоматизированная система картирования для пластин до 450 мм

F54 – картирование пластин с малым размером пятна

F60t – система автоматического картирования для производственных условий

In situ анализаторы для контроля качества в производственных линиях

F30 – мощный инструмент для in situ мониторинга роста пленок

F32 – компактная система для in situ измерений

 

F20

Анализатор толщины пленок  F20 Filmetrics
Базовая модель анализатора толщины Filmetrics
F3-sX

Анализатор толщины полупроводников и диэлектриков
F3-CS

Анализатор толщины для небольших образцов
F10-AR

Анализатор толщины для изогнутых поверхностей и линз
F10-ARc

Компактный анализатор толщины для изогнутых поверхностей
F10-RT

Анализатор толщины для одновременного определения пропускания и отражающей способнсти
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ]


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design