 |
F40 |
Превратите Ваш оптический микроскоп в прибор для измерения толщины пленок и оптических постоянных! Размер пятна от 1 мкм, диапазон измерения толщин – от 4 нм до 350 мкм. Малый размер пятна крайне важен для структурированных подложек и иных применений с малым размером объектов на поверхности. Для установки требуется С-Mount.
Типичные области применения:
· полупроводниковая промышленность
- толщина фоторезиста
- толщина оксидов/нитридов
- толщина кремния и других полупроводниковых пленок
· МЭМС
- толщина фоторезиста
- толщина кремниевых мембран
- толщина тонкопленочных фильтров AlN/ZnO
· Толщина материалов для изготовления ЖК-дисплеев (полиимид, оксид индия-олова и т.д.)
· Биомедицина
- Толщина мембран/воздушных баллонов
- Покрытие имплантов
- Слои полимеров/парилена
|
