На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыРФЭ и Оже-спектрометрыНано-ИК и нано-ТАСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

нано-ик и нано-та

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.

 

Производители
Anasys Instruments

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Cистемы для нано-ИК и нано-термоанализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Предлагаем Вашему вниманию также оборудование для:

nanoIR и nanoIR2

Платформа nanoIR2 для нано ИК анализа
Платформы nanoIR и nanoIR2 реализуют принципы нано ИК спектроскопии, делая возможным получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым пространственным разрешением!
nano-TA2

Контроллер опции нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии
Опция нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии. Система совместима с АСМ платформами большинства мировых производителей.
 
О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design