На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

системы микроанализа для электронных микроскопов

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.

 

 

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
20.11.2018 - 23.11.2018
Обучающий семинар по атомно-абсорбционным спектрометрам
г. Красноярск
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Thermo Scientific производит системы микроанализа для электронных микроскопов: ЭДС (EDS), ВДС (WDS), ДОРЭ (EBSD)

Энергодисперсионные спектрометры (ЭДС) UltraDry и UltraDry Compact

Энергодисперсионный микроанализ при невероятно большой скорости счета
Волнодисперсионный спектрометр (ВДС) MagnaRay

Микроанализ при крайне высокой чувствительности к содержанию рассеянных элементов во всем спектральном диапазоне
Система для реализации дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ) QUASOR

Анализ различных кристаллических материалов (исследование микроструктуры, текстуры, ориентации кристаллитов, границ зерен), идентификация фаз (совместно с ЭДС/ВДС)
Новейшая платформа для систем микроанализа Pathfinder

ПО для микроанализа

Позволяет управлять процессом анализа и проводить максимально полный и быстрый анализ материалов при помощи комбинации методов электронной микроскопии и микроанализа

 
О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design