На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры Наномеханические испытания РФЭ и Оже-спектрометры Системы микроанализа для электронных микроскопов Субмикронная ИК-спектроскопия Сканирующая зондовая микроскопия Анализаторы толщины пленок Filmetrics Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Системы микроанализа для электронных микроскопов - Новейшая платформа для систем микроанализа Pathfinder

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
30.03.2021 - 01.04.2021
Выставка "Композит Экспо-2021"
г. Москва, ЦКВ Экспоцентр, пав.1, стенд №1К15
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Новейшая платформа для систем микроанализа Pathfinder


Производитель: Thermo Fisher Scientific
ПО для микроанализа
Увеличить

Новейшая платформа для энерго- и волнодисперсионной спектроскопии – Thermo Scientific Pathfinder™ - используется совместно со спектрометрами и позволяет проводить максимально полный и быстрый анализ материалов при помощи комбинации методов электронной микроскопии и микроанализа. Программное обеспечение позволяет оптимизировать использование спектрометров, уменьшая затраты времени и усилий для получения качественных результатов в несколько раз по сравнению с другими платформами за счет использования запатентованного метода анализа основных компонент (Рrincipal Component Analysis, PCA) и иных подходов. В результате этого информативная картина состава образца может быть получена менее чем за минуту.

Программное обеспечение предназначено для исследования как известных, так и принципиально новых материалов, позволяя обнаружить неизвестные ранее компоненты и примеси даже в самых сложных матрицах, включая минералы, сплавы и т.д. Уникальный набор из 29 фильтров для изображений позволяет получить четкую и понятную картину на основании результатов РЭМ/ЭДС и РЭМ/ВДС.

ПО Pathfinder доступно в четырех версиях с различным набором функций: базовый уровень (Basecamp – «Базовый лагерь») и три продвинутых уровня (Alpine Key («Альпийский»), Mountaineer («Альпинистский»), Pinnacle («Вершина»).

 

Базовый уровень (Basecamp, работает под 64-битной операционной системой)

·       Режим «быстрого старта» и возможность задания специальных режимов пользователем

·       Полный набор методик получения данных: спектр, анализ в точке, анализ вдоль линии, картирование с получением спектральных изображений

·       Автоматический качественный и количественный анализ независимо от наличия стандартов

·       Улучшенные алгоритмы вычитания фона, деконволюции и количественного анализа для получения непревзойденных по точности данных

·       Получение отчета в один клик

·       Неограниченная лицензия для организации (для использования ПО без микроскопа для обработки и визуализации данных), полная совместимость с внутренними серверами позволяет работать с результатами из любого удобного места

 

Первый продвинутый уровень (Alpine Key)

·       Расчет и отображение количественных карт в режиме реального времени по мере накопления данных

·       Пакетная экстракция поддерживает работу в режимах 2D и 3D-мозаики

·       Автоматическая компенсация дрейфа на основе уникального алгоритма

·       База данных спектров продвинутого уровня для автоматической идентификации линий


Второй продвинутый уровень (Mountaineer)

·       Создание сложных фазовых карт на основе минимального набора данных менее чем за минуту

·       Локализация примесных элементов в самых сложных матрицах, поиск «иголки в стоге сена»

·       Пространственная деконволюция и автоматическая оптимизация спектров для более надежных результатов анализа

·       Полностью автоматизированный и программируемый анализ позволяет минимизировать вероятность ошибки при проведении исследований


Третий продвинутый уровень (Pinnacle)

·       29 уникальных фильтров для рентгеновских изображений: сглаживание, идентификация краев, увеличение резкости и размывание изображения

·       Полностью автоматизированный анализ для многокадрового картирования, линейного сканирования перемещением предметного столика и анализа нескольких точек

·       Быстрое и качественное получение карт для очень больших участков

 

 


Назад


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design