На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
23.04.2019 - 26.04.2019
17-я Международная выставка "АналитикаЭкспо-2019"
г. Москва, ВЦ "Крокус Экспо", павильон 1, зал 4
Читать далее»
23.04.2019 - 25.04.2019
12-я Специализированная выставка "Композит-Экспо2019"
г. Москва, ЦВК "Экспоцентр", павильон 1
Читать далее»
11.04.2019 - 11.04.2019
Семинар "Аналитическое оборудование для микроэлектроники"
Зеленоград, Техноюнити
Читать далее»
27.03.2019 - 29.03.2019
Выставка "Экология. Промбезопасность" и "Нефть. Газ. Энерго"
г. Оренбург, конгресс-центр "Армада", галерея 7
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения: Наука
Анализ покрытий
Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Диапазон поставляемых компонентов представлен следующими основными позициями:

Avantage

Программное обеспечение для получения и обработки данных

  • Используемая платформа - Windows 
  • Управление всеми компонентами спектрометра
  • Простота использования

XR3 - двуханодный рентгеновский источник

 

Высокоэмиссионный, лёгкий в обслуживании рентгеновский источник мощностью 400 Вт

  • Al и Mg аноды
  • Минимизирует паразитные пики (очень низкая перекёстная наводка (< 0.35 %), серебряная подложка)

XR5- микрофокусный рентгеновский монохроматор

Монохроматор на основе двойного кристалла, использующий микросфокусированную электронную пушку. Максимальная чувствительность при анализе малых областей.

  • Непревзойдённое разрешение для РФЭС
  • Размер области анализа задаётся путем фокусировки падающего излучения
  • Анод перемещается для продления срока службы

UVL - источник УФ излучения высокой интенсивности

Источник со встроенной системой наклона, позволяет облучать УФ излучением участки малой площади

  • Высокая интенсивность излучения
  • Режимы He I и He II
  • Двухуровневая дифференциальная откачка

FEG1000 - электронная пушка с полевой эмиссией

Электронная пушка высокого разрешения для проведения Оже-электронной спектроскопии, Оже-электронной микроскопии, а также растровой электронной микроскопии.

  • Размер пятна < 95 нм
  • Высокая плотность тока
  • Возможность построения изображений Оже-электронной микроскопии и растровой электронной микроскопии

EX05 - ионная пушка с дифференциальной откачкой

Высокоэффективная пушка для получения точных результатов распылительного профилирования

  • Высокоточные результаты распылительного профилирования
  • Диапазон энергий ионов 100 эВ - 5 keV
  • Может быть использована в качестве источника ионов для ВИМС
  • Позволяет проводить анализ при помощи спектроскопии ионного рассеяния  (ISS)
  • Нейтрализация заряда

EX03 - ионная пушка для очистки поверхности образца

Пушка перекрёстной ионизации для очистки поверхности большой площади и распылительного профилирования

  • Возможность облучения больших площадей поверхности
  • Диапазон энергий 300 эВ - 3 кэВ
  • Компактное исполнение

 

За более полной технической информацией, а также по любым иным вопросам, пожалуйста, обращайтесь в офис компании Intertech Corporation.

 

 


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design