На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - Nexsa

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
23.04.2019 - 26.04.2019
17-я Международная выставка "АналитикаЭкспо-2019"
г. Москва, ВЦ "Крокус Экспо", павильон 1, зал 4
Читать далее»
23.04.2019 - 25.04.2019
12-я Специализированная выставка "Композит-Экспо2019"
г. Москва, ЦВК "Экспоцентр", павильон 1
Читать далее»
11.04.2019 - 11.04.2019
Семинар "Аналитическое оборудование для микроэлектроники"
Зеленоград, Техноюнити
Читать далее»
27.03.2019 - 29.03.2019
Выставка "Экология. Промбезопасность" и "Нефть. Газ. Энерго"
г. Оренбург, конгресс-центр "Армада", галерея 7
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Nexsa


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Nexsa
Увеличить

Nexsa - новейший автоматизированный фотоэлектронный спектрометр, в котором интегрирован целый ряд аналитических методов для комплексного анализа поверхности, включая спектроскопию ионного рассеяния (ISS), спектроскопию характеристических потерь энергии электронов (REELS), УФ и спектроскопию комбинационного рассеяния (Раман), что позволяет пользователям проводить истинный корреляционный анализ, раскрывая потенциал для дальнейшего развития материаловедения в сфере микроэлектроники, нанотехнологий, исследования ультратонких пленок и многих других приложений.


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design