На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - K-Alpha+

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
11.02.2019 - 19.02.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Красноярск, Сибирское ПГО
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


K-Alpha+


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения: Добыча и переработка сырья
Криминалистика
Микроэлектроника
Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Нефтехимия и нефтепереработка
Химическая промышленность
Нанолитография
Полимерная отрасль
РФЭС спектрометр K-Alpha+
Увеличить

К-ALPHA+ – полностью интегрированный РФЭ спектрометр. Максимально компактный и простой в обращении прибор, сочетающий разумную цену с высокой функциональностью. Все процессы максимально автоматизированы, все операции проводятся без вмешательства пользователя (за исключением загрузки образца). Система укомплектована ионной пушкой с функцией зарядовой нейтрализации. 128-канальный анализатор для картирования поверхности с высоким разрешением. Автоматическое создание отчёта.

Прекрасные возможности для проведения анализа, низкая стоимость и компактные размеры сделали K-Alpha+ идеальным решением как для традиционных, так и для новых областей применения анализа поверхности. Всего за год существования на рынке прибор приобрел чрезвычайную популярность и широко используется в биомедицинских лабораториях и центрах исследования наноматериалов по всему миру.

Конфигурация

Микрофокусный монохроматизированный источник рентгеновского излучения для быстрого и эффективного проведения анализа

  • Определение химических состояний элементов
  • Возможность непрерывного изменения анализируемой площади (от больших площадей до 30 мкм)
  • Неразрушающий анализ
  • Простота позиционирования пятна на поверхности
  • Картирование поверхности, возможность сканирования вдоль линии с микронным разрешением

Электронная оптика последнего поколения, обеспечивающая максимальную точность и высокую интенсивность

  • Новейшая конструкция линз
  • Анализатор высокого разрешения
  • Получение данных как в параллельном режиме, так и в режиме сканирования
  • Режим снимка для быстро картирования поверхности и профилирования по глубине
  • Превосходные пределы обнаружения для РФЭС

Точное позиционирование образца для большей уверенности в получаемых результатах

  • Максимальная точность позиционирования образца
  • Уникальная система подсветки
  • Запатентованная система наблюдения за образцом (используются 3 камеры)
  • Система отражающей оптики для выбора области анализа

 Новейшая ионная пушка для эффективного распылительного профилирования

  • Оптимальная скорость травления
  • Режим низкоэнергетических электронов
  • Возможность вращения образца
  • Режим высокого тока для повышения скорости травления
  • Автоматическая настройка и юстировка

Новая система компенсации заряда для исследования непроводящих образцов

  • Возможность получения спектров высокого разрешения
  • Исследование любого типа образцов
  • Анализ больших и малых площадей поверхности
  • Не требуется вмешательства пользователя

Геометрия всех компонентов аналитического оборудования была учтена для оптимизации работы прибора. Схема расположения компонентов представлена на рисунке 3. Система обладает несколькими важными особенностями:

- ось промежуточной линзы перпендикулярна поверхности образца, что обеспечивает максимальную эффективность сбора данных;

- оптика Reflex всегда обеспечивает линейное изображение анализируемого образца, также перпендикулярно поверхности образца. Это обеспечивает наилучшие условия для наиболее точного определения позиции образца;

- камера для установки высоты позволяет точно определить правильное положение образца при анализе малых площадей и правильную высоту для достижения оптимальной чувствительности;

- рентгеновское излучение проходит через фокусирующий монохроматор. Это позволяет пользователю определить площадь анализа и обеспечивает максимальную чувствительность при анализе малых площадей;

- новая ионная пушка позволяет получать профили распределения концентрации по глубине с отличным разрешением. Она направляет пучок низкоэнергетических ионов в точку малого диаметра, в результате чего достигается хорошее разрешение при высокой скорости анализа;

- новый нейтрализатор разработан таким образом, что пользователю нужно только включить его, если требуется провести анализ изоляторов - не требуется какой-либо дополнительной юстировки или оптимизации;

- подсветка образца крайне важна для получения высококачественного изображения образца в реальном времени. Система K-Alpha+ оборудована осветителями двух типов. Один дает коаксиальное освещение для оптики Reflex, идеальное для образцов с гладкой поверхностью. Другой источник света дает неосевое освещение, которое идеально подходит для образцов с шероховатой поверхностью.

Аналитическая камера изготовлена из цельного куска сплава никеля с железом. Это обеспечивает отличное экранирование. Точность изготовления сводит к минимуму необходимость юстировки компонентов. Для прокачки используется турбомолекулярный насос в комбинации со роторным форвакуумным и сублимационным насосами.

Архитектура системы K-Alpha+

 

 

Картирование поверхности - определение распределения компонентов

Многоканальный детектор в системе K-Alpha+ позволяет мгновенно получать спектры высокого разрешения. Это означает, что спектр можно получить для каждой точки изображения. К каждой точке также можно применить все функции обработки данных программного обеспечения Avantage, включая функцию аппроксимации спектров и учета фона. Это позволяет пользователю получать количественные карты распределения элементов в различных химических состояниях по поверхности, аналогичные представленной на рисунке ниже. Более подробную информацию Вы можете получить у наших специалистов.

 


 

Картирование поверхности: (а) карта распределения атомов углерода в состоянии, отвечающем связи C-H, (b) связи С-F.

 

Распылительное профилирование

Система K-Alpha+ оборудована новой ионной пушкой, которая особенно эффективна при низких энергиях. Это значит, что система может непрерывно генерировать профили распределения элементов по глубине с отличным разрешением даже для самых "трудных" образцов. В случае необходимости для получения оптимального разрешения по глубине можно использовать азимутальное вращение.

 

Профили распределения элементов по глубине для фрагмента рентгеновского зеркала, в котором слои чередуются через каждые 7 нм. Для получения профилей использованы ионы аргона с энергией 220 эВ.

 

Функция автоматического создания отчетов

Программное обеспечение Avantage позволяет отказаться от выполнения многих рутинных операций, связанных с проведением анализа. В нем имеется возможность автоматического создания отчетов. Отчет содержит изображения образцов и анализируемой области, все полученные спектры и таблицы количественных результатов для каждого из проанализированных образцов.

Функция автоматического проведения анализа

Система K-Alpha+ также использует функцию Auto-analyze. Благодаря этой опции пользователь может просто загрузить образцы и указать на изображении Platter View позиции для анализа. После этого прибор автоматически проведет следующие операции:

1)      откачка камеры ввода и перемещение образца в камеру анализа;

2)      регистрация обзорного спектра;

3)      идентификация элементов, присутствующих в обзорном спектре;

4)      получение количественных результатов;

5)   получение спектров высокого разрешения для идентифицированных элементов для определения их химических состояний;

6)     определение химических состояний для идентифицированных элементов и состава образца;

7)     переход к следующему образцу и повторение вышеуказанных операций, начиная с операции №2;

8)    создание отчета после завершения анализа последнего образца;

9)    возврат образцов в манипулятор. Теперь можно загрузить в прибор новый комплект образцов.


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design