8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru

Нанолитография

Ближайшие семинары

19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»

29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»

13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»

30.03.2021 - 01.04.2021
Выставка "Композит Экспо-2021"
г. Москва, ЦКВ Экспоцентр, пав.1, стенд №1К15
Читать далее»

Больше семинаров

Новые разработки

	Элементный анализ
	Молекулярный анализ
	Термоанализ и реология

Каталог зондов

В каталоге представлены зонды, выпускаемые ведущими мировыми производителями, такими как Olympus, Nanosensors, NanoWorld, Asylum Research. Зонды совместимы с атомно-силовыми микроскопами любых производителей.

Оптические профилометры MicroXAM

Оптический профилометр (интерферометр) MicroXAM-800

Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности

K-Alpha+

Полностью интегрированный РФЭС спектрометр последнего поколения.

Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP

Высокая пропускная способность и максимальная степень автоматизации

Theta 300

Система для неразрушающего анализа поверхности и полноразмерных полупроводниковых пластин. Theta 300 сочетает методики РФЭС и РФЭС с угловым разрешением, являясь мощнейшим аналитическим прибором для использования в научных исследованиях и полупроводниковой промышленности.

Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru

Политика кофиденциальности

Создание сайта Wilmark Design