На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Нанолитография

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
23.04.2019 - 26.04.2019
17-я Международная выставка "АналитикаЭкспо-2019"
г. Москва, ВЦ "Крокус Экспо", павильон 1, зал 4
Читать далее»
23.04.2019 - 25.04.2019
12-я Специализированная выставка "Композит-Экспо2019"
г. Москва, ЦВК "Экспоцентр", павильон 1
Читать далее»
11.04.2019 - 11.04.2019
Семинар "Аналитическое оборудование для микроэлектроники"
Зеленоград, Техноюнити
Читать далее»
27.03.2019 - 29.03.2019
Выставка "Экология. Промбезопасность" и "Нефть. Газ. Энерго"
г. Оренбург, конгресс-центр "Армада", галерея 7
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Каталог зондов

В каталоге представлены зонды, выпускаемые ведущими мировыми производителями, такими как Olympus, Nanosensors, NanoWorld, Asylum Research. Зонды совместимы с атомно-силовыми микроскопами любых производителей.

Оптические профилометры MicroXAM

Оптический профилометр (интерферометр) MicroXAM-800
Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности
K-Alpha+

РФЭС спектрометр K-Alpha+
Полностью интегрированный РФЭС спектрометр последнего поколения.
Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP

Высокая пропускная способность и максимальная степень автоматизации
Theta 300

Общий вид системы Theta 300
Система для неразрушающего анализа поверхности и полноразмерных полупроводниковых пластин. Theta 300 сочетает методики РФЭС и РФЭС с угловым разрешением, являясь мощнейшим аналитическим прибором для использования в научных исследованиях и полупроводниковой промышленности.
 
О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design