На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru		  
расширенный поиск 		Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Нанолитография

Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


Каталог зондов

В каталоге представлены зонды, выпускаемые ведущими мировыми производителями, такими как Olympus, Nanosensors, NanoWorld, Asylum Research. Зонды совместимы с атомно-силовыми микроскопами любых производителей.

Оптические профилометры MicroXAM

Оптический профилометр (интерферометр) MicroXAM-800
Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности
K-Alpha+

РФЭС спектрометр K-Alpha+
Полностью интегрированный РФЭС спектрометр последнего поколения.
Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP

Высокая пропускная способность и максимальная степень автоматизации
Theta 300

Общий вид системы Theta 300
Система для неразрушающего анализа поверхности и полноразмерных полупроводниковых пластин. Theta 300 сочетает методики РФЭС и РФЭС с угловым разрешением, являясь мощнейшим аналитическим прибором для использования в научных исследованиях и полупроводниковой промышленности.
 
О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru		 Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design