На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Микроэлектроника

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Стандарты для калибровки содержания частиц загрязнений

Стандарты для калибровки размера частиц и загрязнений используются для сканирующих систем инспекции поверхности (SSIS) в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике
Каталог зондов

В каталоге представлены зонды, выпускаемые ведущими мировыми производителями, такими как Olympus, Nanosensors, NanoWorld, Asylum Research. Зонды совместимы с атомно-силовыми микроскопами любых производителей.

Оптические профилометры MicroXAM

Оптический профилометр (интерферометр) MicroXAM-800
Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности
Динамический механический анализатор Discovery DMA 850

Динамический механический анализ

Исследовательский прибор способный работать как динамический механический и термомеханический анализатор в различных режимах деформации (сжатие, растяжение, изгиб по двум и трем точкам, пенетрация, сдвиг, сжатие в жидкости, растяжение в жидкости) и с использованием различных газовых сред, температур и режимов нагружения.

Theta Probe

Спектрометр Theta Probe в стандартной конфигурации
РФЭС спектрометр с угловым разрешением. Единственный в мире прибор такого рода с разрешением по глубине 0.1 нм.
Динамический механический анализатор RSA-G2

Динамический механический анализатор RSA-G2

Динамический механический анализатор RSA-G2 - исследовательский прибор, способный работать как стандартный динамический механический анализатор, так и совмещать с динамическими измерениями диэлектрический анализ в различных режимах деформации (сжатие, растяжение, изгиб по двум и трем точкам, пенетрация, сдвиг, растяжение или сжатие с погружением в жидкость) и с использованием различных газовых сред, температур и режимов нагружения.

 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ] [ 3 ]


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design