На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры Наномеханические испытания РФЭ и Оже-спектрометры Системы микроанализа для электронных микроскопов Субмикронная ИК-спектроскопия Сканирующая зондовая микроскопия Анализаторы толщины пленок Filmetrics Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - Theta Probe

Последние новости
[15.09.2021]
Discovery TMA 450 и Discovery TMA 450EM в Реестре СИ
Читать далее»
[14.09.2021]
Обновленный анализатор температуропроводности Discovery Xenon Flash 200+
Читать далее»
[23.08.2021]
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[29.07.2021]
Новый сорбционный гравиметрический анализатор Discovey SA
Читать далее»
[12.07.2021]
Мини-конференция по проблемам наноиндентирования
Читать далее»
[08.07.2021]
Отчет о прошедшем курсе повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[24.06.2021]
Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня
Читать далее»
[08.06.2021]
Применение УФ-Вид спектроскопии для повышения качества бактериальных культур и олигонуклеотидов
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Theta Probe


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения:  Атомная промышленность
Микроэлектроника
Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Спектрометр Theta Probe в стандартной конфигурации

 

THETA PROBE –прорыв в области анализа поверхности и различных покрытий методами электронной спектроскопии. Позволяет проводить количественный и качественный анализ поверхности различных материалов и исследование сверхтонких плёнок. Прибор обладает уникальной функцией построения карт распределения химических элементов по поверхности, карт толщин покрытий, распределения примесей и т.д. Уникальная методика РФЭС с угловым разрешением (PARXPS) позволяет проводить широкий спектр неразрушающих исследований на неподвижном образце (определение последовательности слоёв, распылительное профилирование, анализ толщины скрытых слоёв, анализ однородности толщины, состава слоев и концентрации элементов в них и т.д.). Система является уникальной в своём роде, и при иcпользовании запатентованной методики PARXPS разрешение по глубине при неразрушающем профилировании составляет

В базовой комплектации прибор включает:

• полусферический анализатор с двойной фокусировкой;
• многоэлементную систему вводных линз RADIAN для спектроскопии;
• многоканальный двумерный детектор для спектроскопии и PARXPS;

Микрофокусный монохроматический источник рентгеновского излучения
• монохроматор 250 мм (круг Роуланда);
• микрофокусная электронная пушка и многопозиционный алюминиевый анод;
• термостатированная система управления кристаллом и манипуляторы;
• минимальный размер пятна - от 15 мкм

Комбинированная ионно-электронная пушка для зарядовой нейтрализации
• Нейтрализация заряда
• Функция электростатического отклонения для точной настройки
• Источник низкоэнергетических электронов

Ионная пушка
• Очистка поверхности образца, распылительное профилирование
• Дифференциальная откачка

Наблюдение за образцом
• Окно с защитой от рентгеновского излучения 
• Микроскоп для оптимизации положения образца с CCD камерой

 

Профиль распределения концентрации по глубине слоя оксинитрида кремния, полученный при помощи прибора Theta Probe.

 

3D представление распределения толщины оксида по поверхности пластины диаметром 200 мм.

Химическая карта распределения дозы азота по поверхности пластины диаметром 300 мм.

 

За любой дополнительной информацией, пожалуйста, обращайтесь в офис компании Intertech Corporation. 


Назад


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design