На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня

Последние новости
[26.10.2021]
Завершен курс по методам термического анализа-2021
Читать далее»
[29.09.2021]
Новый термомеханический анализатор с камерой влажности TMA 450 RH
Читать далее»
[15.09.2021]
Discovery TMA 450 и Discovery TMA 450EM в Реестре СИ
Читать далее»
[14.09.2021]
Обновленный анализатор температуропроводности Discovery Xenon Flash 200+
Читать далее»
[23.08.2021]
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[29.07.2021]
Новый сорбционный гравиметрический анализатор Discovey SA
Читать далее»
[12.07.2021]
Мини-конференция по проблемам наноиндентирования
Читать далее»
[08.07.2021]
Отчет о прошедшем курсе повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 



[24.06.2021]

Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня

Приглашаем принять участие в вебинаре «Выбор кантилеверов для атомно-силовой микроскопии: от микроэлектроники до биологических задач» в среду, 30 июня 2021 г., в 11.00 по московскому времени.

В ходе вебинара Вы узнаете:

  • Как устроены кантилеверы и какие физические характеристики и процессы лежат в основе их использования
  • Каковы основные параметры кантилеверов
  • Как выбрать подходящие параметры кантилеверов в зависимости от типа исследуемых образцов
  • Примеры выбора кантилеверов для решения различных задач (топография поверхности, наномеханические свойства, электрофизические и магнитные измерения и т.д.)

Вебинар пройдет на русском языке. Ведущая вебинара – Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н., руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур» Intertech Corporation.

Для регистрации участия в вебинаре пройдите по ссылке

Вебинар проводится на платформе Zoom.

 


« вернуться


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design