На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Визуализация реологических исследований (видео)

Последние новости
[22.12.2016]
Спектрофотометры NanoDrop One (видео на русском языке)
Читать далее»
[21.12.2016]
Динамические механические анализаторы ТА Instruments
Читать далее»
[20.12.2016]
План обучающих курсов, проводимых в 2017 г.
Читать далее»
[19.12.2016]
Спектрофотометры NanoDrop One. Приложения для анализа белков, пептидов и нуклеиновых кислот
Читать далее»
[12.12.2016]
Определение октанового числа бензинов
Читать далее»
[07.12.2016]
Статья "Автоматизированная система контроля промышленных выбросов"
Читать далее»
[06.12.2016]
Визуализация реологических исследований (видео)
Читать далее»
[05.12.2016]
Промо-акция на NanoDrop One
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
30.05.2017 - 02.06.2017
Курс повышения квалификации по термоанализу
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
22.05.2017 - 31.05.2017
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
г. Санкт-Петербург, Гражданский пр-т, 11, "Институт Гипроникель"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[06.12.2016]

Визуализация реологических исследований (видео)


Увеличить

Модульный микроскоп для реологических исследований – специальная приставка к реометрам DHR TA Instruments, обеспечивающая полную визуализацию потока с одновременным измерением реологических параметров.

Ознакомительное видео:

 

 Особенности и возможности модульного микроскопа для реометров:

  • Быстрая и легкая установка (технология Smart Swap™).
  • Визуальный доступ к любой позиции в области измерения (центр, край, или средняя часть радиуса образца).
  • Возможность фиксации плоскости изображения в глубине образца
  • Высокое разрешение, регистрация изображений с высокой частотой кадров
  • Прямое измерение температуры образца (диапазон температуры от -20? до 100? С).
  • Управление температурой с помощью верхней нагреваемой плоскости.
  • Дополнительные опции: кросс-поляризация, флуоресценция и профилирование по глубине.
  • Широкий выбор объективов.

Для получения подробной информации о возможностях и стоимости этой уникальной приставки, обращайтесь в региональные офисы нашей компании


« вернуться


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design