Новые разработки
Последние новости |
[16.04.2018] Объявляем конкурс "Книга за лучший вопрос" Читать далее» | [13.04.2018] Внимание: перенос даты проведения курса повышения квалификации по инфракрасной спектроскопии Читать далее» | [10.04.2018] V Международная судостроительная конференция 12-13 апреля 2018 г. (ВК Ленэкспо) Читать далее» | [03.04.2018] Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Читать далее» | [02.04.2018] Вебинар по ИК микроскопии с субмикронным разрешением Читать далее» | [30.03.2018] Вебинар по оптической профилометрии Читать далее» | [23.03.2018] Оптические профилометры Zeta Instruments Читать далее» | [19.03.2018] Открыт прием заявок на курс по термоанализу 22-25 мая 2018 г. Читать далее» |
...История новостей |
 |
|
Анализ поверхности и наноструктурИК спектроскопия поверхности в наномасштабе
Компания Intertech Corporation представляет Вашему вниманию системы для нано-ИК анализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа. Новейшие патентованные разработки компании Anasys Instruments воплощенные в платформах nanoIRTM и nanoIR2TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!
Подробнее >>
Нано-термоанализ
Опцию нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии разработана Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA) и совместима с АСМ платформами всех мировых производителей, таких как NT-MDT, Bruker, AsylumResearch, Anasys Instruments. Назовите вашу модель микроскопа, и мы предложим решение!
Подробнее >>
« Вернуться
|