На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Новые разработки

Последние новости
[16.04.2018]
Объявляем конкурс "Книга за лучший вопрос"
Читать далее»
[13.04.2018]
Внимание: перенос даты проведения курса повышения квалификации по инфракрасной спектроскопии
Читать далее»
[10.04.2018]
V Международная судостроительная конференция 12-13 апреля 2018 г. (ВК Ленэкспо)
Читать далее»
[03.04.2018]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[02.04.2018]
Вебинар по ИК микроскопии с субмикронным разрешением
Читать далее»
[30.03.2018]
Вебинар по оптической профилометрии
Читать далее»
[23.03.2018]
Оптические профилометры Zeta Instruments
Читать далее»
[19.03.2018]
Открыт прием заявок на курс по термоанализу 22-25 мая 2018 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2018 - 25.05.2018
Курс повышения квалификации по термоанализу
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
21.05.2018 - 30.05.2018
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
24.04.2018 - 26.04.2018
Выставка "Аналитика Экспо 2018"
г. Москва, ВЦ "Сокольники"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Анализ поверхности и наноструктур

ИК спектроскопия поверхности в наномасштабе

Платформа nanoIR2 для нано-ИК анализа

Компания Intertech Corporation представляет Вашему вниманию системы для нано-ИК анализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа. Новейшие патентованные разработки компании Anasys Instruments воплощенные в платформах nanoIRTM и nanoIR2TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!

Подробнее >>


Нано-термоанализ

Контроллер опции нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии

Опцию нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии разработана Anasys Instruments (Santa-BarbaraCA) и совместима с АСМ платформами всех мировых производителей, таких как NT-MDTBrukerAsylumResearchAnasys Instruments. Назовите вашу модель микроскопа, и мы предложим решение!

Подробнее >>



« Вернуться

О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design