Новые разработки

Последние новости

[05.02.2019] Семинар по термоанализу и реометрии в Перми Читать далее»

[31.01.2019] Семинар по исследованию поверхности в Санкт-Петербурге Читать далее»

[24.01.2019] Семинар по профилометрии и наноиндентированию Читать далее»

[16.01.2019] Обучающий семинар по АЭС-ИСП в Красноярске Читать далее»

[27.12.2018] С наступающим Новым годом! Читать далее»

[14.12.2018] Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2019 году Читать далее»

[13.12.2018] Курс повышения квалификации по реологии в 2019 году Читать далее»

[29.10.2018] Обучающий семинар по атомно-абсорбционным спектрометрам Читать далее»

...История новостей

Ближайшие семинары 02.07.2019 - 05.07.2019 Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова Читать далее» 22.05.2019 - 24.05.2019 Курс повышения квалификации по реологии г. Москва, НИТУ "МИСиС" Читать далее» 28.02.2019 - 28.02.2019 Семинар по термоанализу и реометрии г. Пермь, Технопарк Читать далее» Больше семинаров

Новые разработки Элементный анализ Молекулярный анализ Термоанализ и реология Анализ поверхности и наноструктур

ИК спектроскопия поверхности в наномасштабе

Компания Intertech Corporation представляет Вашему вниманию системы для нано-ИК анализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа. Новейшие патентованные разработки компании Anasys Instruments воплощенные в платформах nanoIR^TM и nanoIR2^TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!

Подробнее >>

Нано-термоанализ

Опцию нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии разработана Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA) и совместима с АСМ платформами всех мировых производителей, таких как NT-MDT, Bruker, AsylumResearch, Anasys Instruments. Назовите вашу модель микроскопа, и мы предложим решение!

Подробнее >>