На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Новые разработки

Последние новости
[23.11.2017]
Доклад по применению ИК спектроскопии и методов термоанализа для исследования полимеров и композитов
Читать далее»
[21.11.2017]
OMNI FTIR CEMS - аналитический комплекс для систем мониторинга промышленных выбросов
Читать далее»
[15.11.2017]
Семинар по термоанализу в ДВФУ
Читать далее»
[14.11.2017]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2018 году
Читать далее»
[13.11.2017]
Курс повышения квалификации по термоанализу в 2018 году
Читать далее»
[07.11.2017]
Определение температуры изгиба под нагрузкой
Читать далее»
[03.11.2017]
Свидетельство об утверждении типа средств измерений на новые модели ТГА ТА Instruments
Читать далее»
[02.11.2017]
Вебинар TA Instruments по реологии адгезивов 8-9 ноября 2017 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Анализ поверхности и наноструктур

ИК спектроскопия поверхности в наномасштабе

Платформа nanoIR2 для нано-ИК анализа

Компания Intertech Corporation представляет Вашему вниманию системы для нано-ИК анализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа. Новейшие патентованные разработки компании Anasys Instruments воплощенные в платформах nanoIRTM и nanoIR2TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!

Подробнее >>


Нано-термоанализ

Контроллер опции нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии

Опцию нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии разработана Anasys Instruments (Santa-BarbaraCA) и совместима с АСМ платформами всех мировых производителей, таких как NT-MDTBrukerAsylumResearchAnasys Instruments. Назовите вашу модель микроскопа, и мы предложим решение!

Подробнее >>



« Вернуться

О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design