На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий

Последние новости
[12.07.2021]
Мини-конференция по проблемам наноиндентирования
Читать далее»
[08.07.2021]
Отчет о прошедшем курсе повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[24.06.2021]
Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня
Читать далее»
[08.06.2021]
Применение УФ-Вид спектроскопии для повышения качества бактериальных культур и олигонуклеотидов
Читать далее»
[01.06.2021]
Разработка герметиков нового поколения
Читать далее»
[28.05.2021]
С наступающим Днем химика!
Читать далее»
[20.05.2021]
ИК-Фурье спектрометры Nicolet Summit
Читать далее»
[21.04.2021]
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 



[15.04.2021]

Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий

Рефлектометры

Приглашаем принять участие в вебинаре «Рефлектометрия – метод определения толщины пленок и отражающей способности покрытий: решения KLA», который состоится в среду, 21 апреля, в 11.00 мск.

В ходе вебинара Вы узнаете:

  • Каковы общие принципы метода рефлектометрии, чем данный метод отличается от других способов определения толщины пленок и покрытий, таких как эллипсометрия, профилометрия и т.д.
  • Как мгновенно можно проанализировать толщину пленок и покрытий при помощи метода рефлектометрии для решения различных задач полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, медицины, материаловедения, полимерной промышленности
  • Как решения от KLA (Filmetrics) позволяют определять отражающую способность покрытий, картировать толщину пленки по поверхности материала, проводить определение толщины пленки in situ в процессе ее нанесения

Вебинар пройдет на русском языке. Ведущая вебинара – Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н., руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур» Intertech Corporation.

Для регистрации участия в вебинаре пройдите по ссылке

Вебинар проводится на платформе Zoom.

 


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design