Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий

Приглашаем принять участие в вебинаре «Рефлектометрия – метод определения толщины пленок и отражающей способности покрытий: решения KLA», который состоится в среду, 21 апреля, в 11.00 мск.

В ходе вебинара Вы узнаете:

• Каковы общие принципы метода рефлектометрии, чем данный метод отличается от других способов определения толщины пленок и покрытий, таких как эллипсометрия, профилометрия и т.д.
• Как мгновенно можно проанализировать толщину пленок и покрытий при помощи метода рефлектометрии для решения различных задач полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, медицины, материаловедения, полимерной промышленности
• Как решения от KLA (Filmetrics) позволяют определять отражающую способность покрытий, картировать толщину пленки по поверхности материала, проводить определение толщины пленки in situ в процессе ее нанесения

Вебинар пройдет на русском языке. Ведущая вебинара – Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н., руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур» Intertech Corporation.

Для регистрации участия в вебинаре пройдите по ссылке

Вебинар проводится на платформе Zoom.