На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

Последние новости
[23.11.2017]
Доклад по применению ИК спектроскопии и методов термоанализа для исследования полимеров и композитов
Читать далее»
[21.11.2017]
OMNI FTIR CEMS - аналитический комплекс для систем мониторинга промышленных выбросов
Читать далее»
[15.11.2017]
Семинар по термоанализу в ДВФУ
Читать далее»
[14.11.2017]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2018 году
Читать далее»
[13.11.2017]
Курс повышения квалификации по термоанализу в 2018 году
Читать далее»
[07.11.2017]
Определение температуры изгиба под нагрузкой
Читать далее»
[03.11.2017]
Свидетельство об утверждении типа средств измерений на новые модели ТГА ТА Instruments
Читать далее»
[02.11.2017]
Вебинар TA Instruments по реологии адгезивов 8-9 ноября 2017 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[24.07.2017]

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

ИК микроскопия частиц износа

В процессе эксплуатации машин / механизмов в результате абразивного износа деталей или термической деградации прилегающих жидкостей (смазки, топливо и т.д.) могут появляться частицы размером 20-100 микрон. Характеризация данных частиц является важнейшим шагом в определении их происхождения и места возникновения.

Самый простой аналитический метод предполагает фильтрацию с последующим изучением с помощью оптической микроскопии. Метод ИК микроскопии позволяет идентифицировать материалы, значительно расширив возможности диагностики. В рамках вебинара, который состоится 27 июля, будет представлено применение метода ИК микроскопии для экспресс-анализа идентификации микрочастиц износа.

Докладчик: Michael Bradley, Ph.D, Senior Manager, вед. специалист по применению методов ИКС, КР и БИК компании Thermo Fisher Scientific.

Вебинар на англ. языке.

Ссылка для регистрации на вебинар »


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design