На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

Последние новости
[17.08.2017]
Регистрация на семинар по ИК спектроскопии
Читать далее»
[10.08.2017]
Синхронный термоанализатор нового поколения Discovery SDT 650
Читать далее»
[02.08.2017]
Семинар по ИК спектроскопии в Москве 18 сентября 2017 г.
Читать далее»
[24.07.2017]
Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.
Читать далее»
[21.07.2017]
Настольные ЯМР спектрометры picoSpin 45 / 80 series II
Читать далее»
[18.07.2017]
Семейство ИК-Фурье спектрометров Nicolet Thermo Scientific
Читать далее»
[14.07.2017]
С наступающим Днем металлурга!
Читать далее»
[11.07.2017]
Курс повышения квалификации по методу ИК спектроскопии. Фотоотчет
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
18.09.2017 - 18.09.2017
Семинар Thermo Fisher Scientific по ИК спектроскопии
г. Москва, Golden Ring Hotel
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[24.07.2017]

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

ИК микроскопия частиц износа

В процессе эксплуатации машин / механизмов в результате абразивного износа деталей или термической деградации прилегающих жидкостей (смазки, топливо и т.д.) могут появляться частицы размером 20-100 микрон. Характеризация данных частиц является важнейшим шагом в определении их происхождения и места возникновения.

Самый простой аналитический метод предполагает фильтрацию с последующим изучением с помощью оптической микроскопии. Метод ИК микроскопии позволяет идентифицировать материалы, значительно расширив возможности диагностики. В рамках вебинара, который состоится 27 июля, будет представлено применение метода ИК микроскопии для экспресс-анализа идентификации микрочастиц износа.

Докладчик: Michael Bradley, Ph.D, Senior Manager, вед. специалист по применению методов ИКС, КР и БИК компании Thermo Fisher Scientific.

Вебинар на англ. языке.

Ссылка для регистрации на вебинар »


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеLIMSКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design