На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Сегодня проводим семинар по термоанализу в ИОНХ РАН

Последние новости
[23.11.2017]
Доклад по применению ИК спектроскопии и методов термоанализа для исследования полимеров и композитов
Читать далее»
[21.11.2017]
OMNI FTIR CEMS - аналитический комплекс для систем мониторинга промышленных выбросов
Читать далее»
[15.11.2017]
Семинар по термоанализу в ДВФУ
Читать далее»
[14.11.2017]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2018 году
Читать далее»
[13.11.2017]
Курс повышения квалификации по термоанализу в 2018 году
Читать далее»
[07.11.2017]
Определение температуры изгиба под нагрузкой
Читать далее»
[03.11.2017]
Свидетельство об утверждении типа средств измерений на новые модели ТГА ТА Instruments
Читать далее»
[02.11.2017]
Вебинар TA Instruments по реологии адгезивов 8-9 ноября 2017 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[16.05.2017]

Сегодня проводим семинар по термоанализу в ИОНХ РАН

Семинар по методам термического анализа "Применение модулированного нагрева в ДСК и ТГА приборах TA Instruments" проводим сегодня в ИОНХ им. Н. С. Курнакова РАН (г. Москва, Ленинский пр-т, д. 31, 1 этаж, конференц-зал).

Начало регистрации - в 10.30, начало докладов - в 11.00.

В завершении семинара выдача Сертификатов и книг Каллистера победителям конкурса за лучшие вопросы!

Ждем участников семинара на 1 этаже в конференц-зале!

 

 


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design