На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Применение

Последние новости
[09.03.2017]
Цикл вебинаров "Практические аспекты микрокалориметрии"
Читать далее»
[07.03.2017]
Поздравляем с наступающим 8 марта!
Читать далее»
[27.02.2017]
Вебинар «Новый изотермический калориметр TAM Air» 01-02 марта
Читать далее»
[22.02.2017]
Поздравляем с 23 февраля!
Читать далее»
[17.02.2017]
Семинар по оборудованию для контроля качества воды (в Украине)
Читать далее»
[16.02.2017]
Семинар по вопросам экологического мониторинга атмосферного воздуха (Санкт-Петербург)
Читать далее»
[10.02.2017]
Изотермические калориметры TAM Air
Читать далее»
[08.02.2017]
Компания INTERTECH поздравляет исследователей с Днем науки!
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
30.05.2017 - 02.06.2017
Курс повышения квалификации по термоанализу
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
22.05.2017 - 31.05.2017
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
г. Санкт-Петербург, Гражданский пр-т, 11, "Институт Гипроникель"
Читать далее»
11.04.2017 - 13.04.2017
Специализированная выставка "Аналитика Экспо-2017"
МВЦ "Сокольники", г. Москва
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Материаловедение

Компания INTERTECH Corporation (США) более 20 лет поставляет оборудование и метрологические решения для научно-исследовательских центров, работающих в области материаловедения и высокотехнологических производств. Учитывая важность выполнения государственных программ по внедрению новейших технологий и исследований поверхности и свойств материалов на наноуровне, компания INTERTECH Corporation предлагает самое современное оборудование для исследовательских лабораторий.

I. Оборудование для исследования поверхности и наноструктур

Оборудование для исследование поверхности и наноразмерных систем: трибологических, электрических, акустических и механических свойств, а также электронно-зондовые приборы для анализа поверхности, неразрушающего контроля структуры покрытий, построения карт распределения примесей, ионной очистки, отжига и нагрева. Возможен качественный и количественный анализ с использованием методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, спектроскопии рассеянных ионов, Оже-спектроскопии и других.

K-Alpha - полностью интегированный РФЭС спектрометр, максимально компактный и простой в обращении прибор, сочетающий разумную цену с высокой функциональностью. Все процессы максимально автоматизированы, все операции проводятся без вмешательства пользователя (за исключением загрузки образца). Система зарекомендовала себя как мощный инструмент для химического и фазового анализа поверхности и покрытий.

Сканирующие зондовые микроскопы Asylum Research - системы исследовательского класса от лидера в отрасли. Системы сочетают непревзойденное разрешение во всех режимах работы, инновационную конструкцию микроскопов с широкими возможностями расширения для опытных пользователей. Широкий спектр зондовых методик позволяет получать: топографию (дефектность), электрические и магнитные свойства поверхности на атомном уровне, силовые кривые в точке и их картирование и др.

Системы для полного спектра механических испытаний наноструктурных объектов и их отдельных элементов Hysitron Inc.: наноиндентирование, скретч-тесты, трибология, электрические и акустические свойства, испытания на износ и др. Приборы реализованы как в виде самостоятельных систем, так и в виде приставок для СЗМ и электронных просвечивающих и растровых микроскопов.


II. Оборудование для ИК и КР микроскопии

ИК и КР микроскопы Thermo Fisher Scientific выпускаются под единой маркой Nicolet и являются инструментом для неразрушающего анализа химического состава поверхности, различного рода покрытий, кремниевых пластин и эпитаксиальных слоев. Конфокальные микроскопы позволяют проводить анализ образца от поверхности до глубины 100 мкм.

Некоторые преимущества ИК-, КР микроскопов Nicolet:

  • спектральное картографирование по поверхности (ИК микроскоп Continuum) или по поверхности и глубине (конфокальный КР микроскоп DXR Raman);
  • полная автоматизация эксперимента, простота смены лазеров без последующей настройки;
  • спектральные базы данных ИК и КР спектров для идентификации химического состава пленок и покрытий органической и неорганической природы;
  • программное обеспечение Specta для анализа многокомпонентных образцов;
  • анализ природы включений и дефектов покрытий, пленок, микроэлектронных плат.

III. Оборудование для термоанализа и реологии

Американская фирма TA Instruments в настоящее время является абсолютным мировым лидером по разработке и продажам аналитических приборов для термического анализа. Исторически фирма образовалась как приборостроительный отдел известного концерна DuPont, специализирующегося на разработке и производстве новых материалов. 

На термоанализаторах TA Instruments можно изучать:

  • термическую и окислительную стабильность материалов;
  • температурные диапазоны применения материалов;
  • зависимость механических и физических свойств материалов и изделий из них от температуры, влажности, состава окружающей среды;
  • зависимость свойств материалов при различных нагрузках и деформациях;
  • совместимость материалов в составе изделий;
  • сорбцию газов и паров;
  • удельную поверхность и пористость материалов

 



« Вернуться

О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design