"Decode the Nanoworld with the Next Generation of AFM"
"Познавайте наномир с АСМ следующего поколения" Asylum Research
Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой микроскопии. Непревзойденная стабильность и предельно возможное разрешение в сочетании с высокой производительностью и возможностями новых запатентованных методик АСМ, позволят Вам совершить рывок в своих исследованиях. Полная поддержка и техническое обслуживание продуктов Cypher™ со стороны специалистов AsylumResearch на всем протяжении работы, консультации со специалистами по всем вопросам позволят Вам достичь лучших результатов.
Прибор производится в двух модификациях:
модель Cypher S™ – АСМ и СЗМ высокого разрешения для небольших образцов. Подробнее…
модель Cypher ES™ – расширение возможностей микроскопа Cypher S™, эксперименты в жидкости и газовой атмосфере, контроль среды и температуры.
Cypher ES™ (Environmental Scanner) расширяет возможности микроскопа Cypher S™ и позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре:
Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке
Возможность работы с микрокаплей (
Интегрированный контроль температуры
Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами).
A) Герметичная ячейка с каплей жидкости
B) Интерфейс кантилевер-образец в капле жидкости с каналами для смены среды
Сменный держатель для охлаждения/нагревания образца
Модульная конструкция
Герметичная ячейка состоит из:
Держателя кантилевера
Тела ячейки,
Держателя образца
Модульная конструкция ячейки обеспечивает максимальную гибкость в эксперименте.
Обмен газа/жидкости в герметичной ячейке:
Несколько портов для продувки/промывки газа/жидкости
Ячейка выдерживает давление до 34,5 кПа
Обмен жидкости может производиться в капле малого объема (до 20 мкл) для уменьшения расхода образца и загрязнения ячейки
Обмен жидкости может осуществляться самотеком (за счет силы тяжести), что не требует наличия насоса
Интегрированный температурный контроль:
Модульная система держателей образцов, позволяющих производить контроль температуры в различных диапазонах
Дополнительных электронных устройств и/или охлаждающих рециркуляторов не требуется
Широкая химическая совместимость:
Обеспечение химической совместимости даже в самых суровых условиях, ячейка изготовлена из инертных материалов: Кварцевое стекло, Фторкаучук (FFKM), Полиэфирэфиркетон (PEEK)
Ячейка рассчитана на применение органических растворителей, кислот, щелочей, буферов, инертных газов.
Спецификация
Сканнер:
Диапазон сканирования: 30 мкм по XY, 5 мкм по Z
Уровень шумов индукционных датчиков: менее 50 пм по Z и 60 пм по XY (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)
Сканирование в режиме замкнутой обратной связи позволяет получать атомарное разрешение и разрешать точечные дефекты(на скане размером менее 10 нм) с величиной усиления сигнала обратной связи эквивалентной сканированию широкой области (> 1 мкм).
Уровень шума при разомкнутой цепи обратной связи:XY Z
XYдрейф:
Движение вне плоскости:
Размер образцов: до 15/6 мм (диаметр/толщина)
Модификации держателя кантилевера:
Для газовой среды:
Только газовая среда
Возможен электрический контакт с кантилевером
Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.
Для жидкости:
Только жидкостная среда
Два отверстия для смены жидкости
Возможен электрический контакт с кантилевером
Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM) (с нержавеющим зажимом)
Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и полиэфирэфиркетон (PEEK) или нержавеющая сталь.
Для подачи высокого напряжения на зонд:
Только газовая среда
Изолированный высоковольтный контакт с кантилевером
Не совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.
Для туннельной микроскопии:
Газовая либо жидкостная среда
Два отверстия для смены жидкости/газа
Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM), нержавеющая сталь и эпоксидная смола.
Модификации тела ячейки:
Для газовой среды:
Среда: газ или капля жидкости
Два отверстия для смены газовой среды
Три электрических коннектора для контакта с образцом (необходимы для методикой проводящей АСМ (C-AFM))
Несколько проходных отверстий для соединения с газовыми/жидкостными линиями
Несколько портов для шприцов
Регулируемая стойка для подачи жидкости самотеком
Измеритель скорости потока для газа (опционально)
Методики СЗМ микроскопа Cypher™
Стандартные:
контактный режим (contact mode)
метод латеральных сил (LFM)
режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера
частотно-модулированная микроскопия (FM-AFM)
Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности
электро-силовая микроскопия (EFM)
метод зонда кельвина (KPFM)
магнитно-силовая микроскопия (MFM)
микроскопия пьезо-отклика (PFM)
силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме
нанолитография
сканирование в жидкости
Опциональные режимы:
микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении
туннельная микроскопия (STM)
AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов
режим широкополосного возбуждение кантилевера (Band Excitation) для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала
Примеры использования
Зондовая микроскопия используется для характеризации топографии и физических свойств поверхности. Она находит применение в широком круге научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолеул, физики полимеров, наночастиц и других материалов. Особенностью микроскопаCypherES™ является возможность сканирования в контролируемой газовой и жидкостной среде, что особенно важно для анализа свойств поверхностиinsitu.
Рост и разрушение винтовых дислокаций поверхностиCaCO3. Видео зарегистрировано с помощью микроскопаCypherESс использованием механизма фототермического возбудждения кантилевераblueDrive.Свежесколотая поверхность кальцита промывалась постоянным потоком (~3мкл/с) раствором, продуцирующим рост либо очистку поверхности.pHраствора контролировался для обеспечения скорости роста/очистки.
Зонд: ArrowUHF
Режим сканирования: прерывистый контакт в жидкости
Возбуждение кантилевера: blueDrive на частоте 525 кГц
Скорость сканирования: 19,5 линий в секунду; 6,55 секунд на кадр
Размер скана: 500 нм
Точек/линий: 256/128
Скорость воспроизведения в 52,4 раза быстрее скорость регистрации
Воспроизводимое разрешение точечных дефектовповерхности кальцита. Режим частотно-модулированной микроскопии прерывистого контакта (FM tapping mode) с фототермическим возбуждением кантилевераblueDrive. Сканирование в жидкости, зондNanoWorldArrowUHF-AuD, скан 10х20 нм.