На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Сканирующая зондовая микроскопия - Cypher ES™

Производители
Asylum Research

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
11.02.2019 - 19.02.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Красноярск, Сибирское ПГО
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Cypher ES™


Производитель: Asylum Research
Области применения: Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Медицина
Микроскоп Cypher ES™
Увеличить

"Decode the Nanoworld with the Next Generation of AFM"
"Познавайте наномир с АСМ следующего поколения"
  Asylum Research

Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой микроскопии. Непревзойденная стабильность и предельно возможное разрешение в сочетании с высокой производительностью и возможностями  новых запатентованных методик АСМ, позволят Вам совершить рывок в своих исследованиях. Полная поддержка и техническое обслуживание продуктов Cypher™ со стороны специалистов Asylum Research на всем протяжении работы, консультации со специалистами по всем вопросам позволят Вам достичь лучших результатов.

 

Прибор производится в двух модификациях:

  • модель Cypher S – АСМ и СЗМ высокого разрешения для небольших образцов. Подробнее…
  • модель Cypher ES – расширение возможностей микроскопа Cypher S™, эксперименты в жидкости и газовой атмосфере, контроль среды и температуры. 

- Технические особенности Cypher ES

- Спецификация

- Методики СЗМ микроскопа Cypher

- Примеры использования

 

 

 

 

 


Технические особенности Cypher ES

Cypher ES™ (Environmental Scanner) расширяет возможности  микроскопа Cypher S и позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре:

  • Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке
  • Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл)
  • Интегрированный контроль температуры
  • Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами).

Герметичная ячейка с каплей жидкости

A) Герметичная ячейка с каплей жидкости

B) Интерфейс кантилевер-образец в капле жидкости с каналами для смены среды

 

Сменный держатель для охлаждения/нагревания образца

Сменный держатель для охлаждения/нагревания образца 

Модульная конструкция

Герметичная ячейка состоит из:

  • Держателя кантилевера
  • Тела ячейки,
  • Держателя образца

Модульная конструкция ячейки обеспечивает максимальную гибкость в эксперименте.

 

Обмен газа/жидкости в герметичной ячейке:

  • Несколько портов для продувки/промывки газа/жидкости
  • Ячейка выдерживает давление до 34,5 кПа
  • Обмен жидкости может производиться в капле малого объема (до 20 мкл) для уменьшения расхода образца и загрязнения ячейки
  • Обмен жидкости может осуществляться самотеком (за счет силы тяжести), что не требует наличия насоса

 

Интегрированный температурный контроль:

  • Модульная система держателей образцов,  позволяющих производить контроль температуры в различных диапазонах
  • Дополнительных электронных устройств и/или охлаждающих рециркуляторов не требуется

 

Широкая химическая совместимость:

  • Обеспечение химической совместимости даже в самых суровых условиях, ячейка изготовлена из инертных материалов: Кварцевое стекло, Фторкаучук (FFKM), Полиэфирэфиркетон (PEEK)
  • Ячейка рассчитана на применение органических растворителей, кислот, щелочей, буферов, инертных газов.

Спецификация

Сканнер:

  • Диапазон сканирования: 30 мкм по XY, 5 мкм по Z
  • Уровень шумов индукционных датчиков: менее 50 пм по Z и 60 пм по XY (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)
  • Сканирование в режиме замкнутой обратной связи позволяет получать атомарное разрешение и разрешать точечные дефекты(на скане размером менее 10 нм) с величиной усиления сигнала обратной связи эквивалентной сканированию широкой области (> 1 мкм).
  • Уровень шума при разомкнутой цепи обратной связи: XY < 8 пм,Z < 4 пм (вариация Аллана на полосе 1Гц – 10 КГц)
  • XY дрейф: < 20/200 нм на °С (с/без модуля контроля температуры)
  • Движение вне плоскости: < 3 нм на диапазоне сканирования с замкнутой цепью обратной связи
  • Размер образцов: до 15/6 мм (диаметр/толщина)

Сканер Cypher ES

Модификации держателя кантилевера:

 

 

Для газовой среды:

  • Только газовая среда
  • Возможен электрический контакт с кантилевером
  • Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
  • Материал:  кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.

 

Держатель кантилевера для газовой седы

Для жидкости:

  • Только жидкостная среда
  • Два отверстия для смены жидкости
  • Возможен электрический контакт с кантилевером
  • Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM) (с нержавеющим зажимом)
  • Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и полиэфирэфиркетон (PEEK) или нержавеющая сталь.
Держатель кантилевера для жидкости

Для подачи высокого напряжения на зонд:

  • Только газовая среда
  • Изолированный высоковольтный контакт с кантилевером
  • Не совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
  • Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.

 

 

Для туннельной микроскопии:

  • Газовая либо жидкостная среда
  • Два отверстия для смены жидкости/газа
  • Материал:  кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM),  нержавеющая сталь и эпоксидная смола.

 

 

Модификации тела ячейки:

 

 

Для газовой среды:

  • Среда: газ или капля жидкости
  • Два отверстия для смены газовой среды
  • Три электрических коннектора для контакта с образцом (необходимы для методикой проводящей АСМ (C-AFM))
  • Материал: кварцевое стекло, никель, эпоксидная смола.

 

Ячейка для газовой среды

Для жидкости:

  • Газовая или жидкостная среда
  • Два отверстия для смены газовой среды
  • Не совместима с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
  • Материал: кварцевое стекло.

 

Ячейка для жидкости

Модификации держателя образца:

 

 

Нагрев:

  • Только газовая среда
  • Диапазон: от комнатной температуры до 250° С
  • Материал: фторкаучук (FFKM), керамика.

 

Держатель для нагрева образца

Нагрев-охлаждение:

  • Газовая или жидкостная среда
  • Диапазон: от 0 до 120° С
  • Материал: фторкаучук (FFKM), анодированный алюминий.

 

Держатель для нагрева/охлаждения образца

Температура окружающей среды:

  • Газовая или жидкостная среда
  • Только температура окружающей среды
  • Материал:  фторкаучук (FFKM), нержавеющая сталь.

 

 

Держатель без нагрева/охлаждения

 

Боковые отверстия в корпусе:

  • Несколько проходных отверстий для соединения с газовыми/жидкостными линиями
  • Несколько портов для шприцов
  • Регулируемая стойка для подачи жидкости самотеком
  • Измеритель скорости потока для газа (опционально)

Боковые отверстия в корпусе

 


Методики СЗМ микроскопа Cypher™

Стандартные:

  • контактный режим (contact mode)
  • метод латеральных сил (LFM)
  • режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера
  • частотно-модулированная микроскопия (FM-AFM)
  • Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности
  • электро-силовая микроскопия (EFM)
  • метод зонда кельвина (KPFM)
  • магнитно-силовая микроскопия (MFM)
  • микроскопия пьезо-отклика (PFM)
  • силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме
  • нанолитография
  • сканирование в жидкости

Опциональные режимы:

  • микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении
  • туннельная микроскопия (STM)
  • AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов
  • режим широкополосного возбуждение кантилевера (Band Excitation) для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала

Примеры использования

Зондовая микроскопия используется для характеризации топографии и физических свойств поверхности. Она находит применение в широком круге научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолеул, физики полимеров, наночастиц и других материалов. Особенностью микроскопа Cypher ES™ является возможность сканирования в контролируемой газовой и жидкостной среде, что особенно важно для анализа свойств поверхности in situ.

Рост и разрушение винтовых дислокаций поверхности CaCO3. Видео зарегистрировано с помощью микроскопа Cypher ES с использованием механизма фототермического возбудждения кантилевера blueDrive. Свежесколотая поверхность кальцита промывалась постоянным потоком (~3мкл/с) раствором, продуцирующим рост либо очистку поверхности. pH раствора контролировался для обеспечения скорости роста/очистки.

  • Зонд: Arrow UHF
  • Режим сканирования: прерывистый контакт в жидкости
  • Возбуждение кантилевера: blueDrive на частоте 525 кГц
  • Скорость сканирования: 19,5 линий в секунду; 6,55 секунд на кадр
  • Размер скана: 500 нм
  • Точек/линий: 256/128
  • Скорость воспроизведения в 52,4 раза быстрее скорость регистрации

 

Воспроизводимое разрешение точечных дефектов поверхности кальцита

Воспроизводимое разрешение точечных дефектов поверхности кальцита. Режим частотно-модулированной микроскопии прерывистого контакта (FM tapping mode) с фототермическим возбуждением кантилевера blueDrive. Сканирование в жидкости, зонд NanoWorld Arrow UHF-AuD, скан 10х20 нм.

См. также галерею изображений, полученных на микроскопе Cypher S.


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design