На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Сканирующая зондовая микроскопия - Cypher S™

Производители
Asylum Research

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
23.04.2019 - 26.04.2019
17-я Международная выставка "АналитикаЭкспо-2019"
г. Москва, ВЦ "Крокус Экспо", павильон 1, зал 4
Читать далее»
23.04.2019 - 25.04.2019
12-я Специализированная выставка "Композит-Экспо2019"
г. Москва, ЦВК "Экспоцентр", павильон 1
Читать далее»
11.04.2019 - 11.04.2019
Семинар "Аналитическое оборудование для микроэлектроники"
Зеленоград, Техноюнити
Читать далее»
27.03.2019 - 29.03.2019
Выставка "Экология. Промбезопасность" и "Нефть. Газ. Энерго"
г. Оренбург, конгресс-центр "Армада", галерея 7
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Cypher S™


Производитель: Asylum Research
Области применения: Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Медицина
Микроскоп Cypher S™
Увеличить

 

"The World's Highest Resolution AFM"
"Высочайшее в мире разрешение АСМ"
  Asylum Research

 

Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой микроскопии. Непревзойденная стабильность и предельно возможное разрешение в сочетании с высокой производительностью и возможностями  новых запатентованных методик АСМ, позволят Вам совершить рывок в своих исследованиях. Полная поддержка и техническое обслуживание продуктов Cypher™ со стороны специалистов Asylum Research на всем протяжении работы, консультации со специалистами по всем вопросам позволят Вам достичь лучших результатов.

Прибор производится в двух модификациях:

  • модель Cypher S – АСМ и СЗМ высокого разрешения для небольших образцов
  • модель Cypher ES – расширение возможностей микроскопа Cypher S™, эксперименты в жидкости и газовой атмосфере, контроль среды и температуры. Подробнее…

- Технические особенности

- Методики СЗМ микроскопа Cypher

- Примеры использования

 

 

 

 


Технические особенности

 

Микроскоп Cypher SR&D 100

Cypher™ S стал первым за десятилетие микроскопом в своем классе, разработанным с нуля.  Новые подходы и методики, внедренные в конструкцию  микроскопа Cypher™ S, вывели атомно-силовую микроскопию на новый уровень разрешающей способности и непревзойдённой стабильности сканирования во всех режимах. 

Интегрированный защитный корпус

Cypher S™


Запатентованная конструкция микроскопа Cypher™ является многоуровневой системой, невосприимчивой к естественным вибрациям. Закрытый корпус прибора обеспечивает:

  • Акустическую (20 дБ) и виброзащиту
  • Контроль температуры (±0,1°C)*
  • Получение атомарного разрешения без дополнительной виброизоляции прибора
  • Компактное размещение на рабочем месте (40х42 см)
  • Доступ к образцу в пределах 180о

 

 

Сканнер микроскопа Cypher

Сканнер микроскопа Cypher S


Сканирование по X Y и Z осуществляется образцом.

Основные характеристики сканера:

  • Перемещение по XY– 30/40мкм с/без обратной связи (closed/open loop).
  • Диапазон по Z – 5/7мкм.
  • Максимальные размеры образца 15/7 мм (диаметр/толщина) 

 

 

NanoPositioning System (NPS™)

 СТМ изображение поврхности графита, 6х6нм
СТМ-изображение поверхности графита, скан 6 нм


Атомное разрешение в режиме замкнутой обратной связи.

С микроскопом Cypher вы более не должны выбирать между точностью позиционирования в режиме замкнутой обратной связи и низким уровнем шума в режиме разомкнутой обратной связи.

Благодаря малошумящим индуктивным датчикам система трехкоординатного позиционирования зонда NanoPositioning System (NPS™) имеет точность  позиционирования лучше, чем 50 пм Z и 60 пм по осям XY (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц). Система не имеет аналогов по характеристикам среди других производителей атомно-силовых микроскопов.

 

SpotOn™

Настройка лазера SpotOn™
Система SpotOn™ настройки лазера и фотодетектора при помощи указателя мыши


SpotOn™ является автоматизированной системой позиционирования лазера и фотодиода. Для перенастройки положения луча требуется всего лишь один клик мыши.

Оптическая система обеспечивает крайне малый размер лазерного пятна (менее 3 мкм), что позволяет увеличить скорость сканирования за счет использования кантилеверов меньших размеров.

 

Короткие кантилеверы*

Сравнение обычного и малого кантилевера

Сканирование до 20 раз быстрее


Короткие кантилеверы (около 10 мкм в длину) при той же жесткости имеют более высокую резонансную частоту, в сравнении с обычными кантилеверами.  Их использование в микроскопах Cypher позволяет до 20 раз увеличить скорость сканирования без ухудшения качества изображения и детектировать силы порядка суб-пиконютон.

Размер лазерного пятна может быть уменьшен до 3 мкм, обеспечивая в случае малых кантилеверов оптимальное соотношение сигнал/шум.

 

Опция фототермического возбуждения кантилевера blueDrive*

Опция blueDrive


Фототермическое возбуждения кантилевера blueDrive заменяет классический способ  пьезомеханического возбуждения и позволяет получить чистый и стабильный во времени механический резонанс кантилевера как на воздухе так и в жидкости. Колебания кантелевера возбуждаются засчет фототермического эффекта, вызываемого импульсным синим лазером (1кГц − 8 МГц), направленным на основание кантилевера. Данная опция, реализованная в микроскопах семейства Cypher, делает сканирование в режиме прерывистого контакта невероятно простым, стабильным и точным.

Отклик кантилевера 

 

Оптические модули MultiLux™

MultiLux Optics Точная настройка
На рисунке показаны 2 различных лазерных пятна на кантилеверах разного размера. Малое пятно имеет размер 3х9мкм.


Заменяемые модули излучения MultiLux™ позволяют использовать в качестве источника лазерные диоды  и низкокогерентные люминесцентные диоды с различными размерами пятна для стандартных и малых кантилеверов, обеспечивая оптимальное соотношение сигнал/шум в обоих случаях.  Замена модуля производится за пару минут. 

 

Дифракционно-ограниченная оптика для наблюдения за образцом

3.1 Mpx изображение сверху
3.1 Мп изображение решетки с периодом 20 мкм, врезка – 8х цифровое увеличение.

Оптическая система высокого разрешения c освещением по Келеру обеспечивает вертикальный обзор на образец и кантилевер. Предельное разрешение оптической системы Cypher™ ограничено только физической дифракцией. 20-кратный объектив позволяет получить субмикронное разрешение на поле 690х920 мкм с цифровым увеличением.

* - Функция является опцией и требует дополнительных модулей, не входящих в стандартную комплектацию


Методики СЗМ микроскопа Cypher™

Стандартные:

  • контактный режим (contact mode)
  • метод латеральных сил (LFM)
  • режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера
  • частотно-модулированная микроскопия (FM-AFM)
  • Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности
  • электро-силовая микроскопия (EFM)
  • метод зонда кельвина (KPFM)
  • магнитно-силовая микроскопия (MFM)
  • микроскопия пьезо-отклика (PFM)
  • силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме
  • нанолитография
  • сканирование в жидкости

Опциональные режимы:

  • микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении
  • туннельная микроскопия (STM)
  • AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов
  • режим широкополосного возбуждение кантилевера (Band Excitation) для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала

Примеры использования

Зондовая микроскопия используется для характеризации топографии и физических свойств поверхности. Она находит применение в широком круге научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолеул, физики полимеров, наночастиц и других материалов. Ниже показаны некоторые изображения, полученные с помощью микроскопа Cypher™ S.

 

Реконструкция свежесколотой поверхности кальцита во влажной воздушной среде. Область сканирования 2 мкм, общее время сканирования 5 часов. Сканирование в режиме прерывистого контакта, 10 мкм кантилевер с резонансной частотой 3,5 МГц. Реконструированная пленка демонстрирует существенный фазовый контраст, что указывает на различие свойств поверхности, в сравнении со сплошным кристаллом. Видео иллюстрирует чрезвычайно низкий уровень шума по Z микроскопа Cypher, так как атомная ступенька имеет высоту всего 3 Å.

 

Динамика дефектов двумерного кристалла, формируемого мембранным белком  бактериородопсином. Подвижные светлые области, вероятно, соответствуют несвязанным молекулам БР, выходящим из решетки. Факт возможности визуализации одиночных несвязанных молекул указывает на то, что сканирование с помощью коротких кантилеверов (длина 20 мкм, частота 153 кГц, амплитуда 9 Å) происходит с достаточно малой амплитудой и очень бережно. Размер скана 100 нм.

 

Точечные дефекты и атомная ступенька поверхности кальцита.

Точечные дефекты и атомная ступенька поверхности кальцита. Сканирование в жидкости, фототермическое возбуждение кантилевера blueDrive, фазовое изображение. Размер скана 30 нм.

 

Двойная спираль ДНК

Двойная спираль ДНК четко разрешена с использованием режима blueDriveTM. Кантилевер Olympus AC40TS. Размер скана 120 нм.

 

Картирование жесткости методом контактного резонанса

Картирование жесткости методом контактного резонанса с применением blueDrive. Образец: островки титана на кремниевой подложке.  Жесткость (Si ~ 165 ГПа, Ti ~ 110-125 ГПа) отображается цветом на трехмерном изображении топографии образца. Размер скана 25 мкм. (Donna Hurley, National Institute of Standards and Technology (NIST).

Изображение дфекта на поврехности графита

АСМ изображение дефекта на поверхности графита, область сканирования 1,7 мкм.

Распределение потенциала на поврехности

АСМ изображение поверхностного потенциала и топографии образца. Приложенное напряжение ~1 В, область сканирования 20 мкм.

Молекулярная организация цетилпальмитата, адсорбированного на ВОПГ

Молекулярная организация цетилпальмитата, адсорбированного на ВОПГ. Режим прерывистого контакта, размер скана 150 нм.

Бактериородопсин

Бактериородопсин. Видно отсутствие белка в структуре мембраны. Сканирование в жидкости, скан 90 нм. (G.M. King Lab, Univ. of Missouri-Columbia).

 

Зависимость силы от удлинения ДНК

Силовая спектроскопия молекулы ДНК. Зависимость силы растяжения молекулы от расстояния зонд-образец. Показан процесс механического плавления ДНК (расхождения нитей).

 

Атомное разрешение графита

Домены мицелл ПАВ вокруг дефекта на графите. Изображение получено в режиме замкнутой обратной связи. Область сканирования 200нм.

Dual AC изображение коллагена


Изображение коллагена, полученное в режиме Dual AC. Амплитуда колебаний на второй гармонике отображается цветом и наложена на топографию поверхности. Область сканирования 300 нм.


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design