20.04.2021 - 20.04.2021 Семинар по методам молекулярного, термического анализа и реологии г. Нижнекамск, Нижнекамский химико-технологический институт Читать далее»
Стандарты для калибровки размера частиц и загрязнений используются для сканирующих систем инспекции поверхности (SSIS) в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике
В каталоге представлены зонды, выпускаемые ведущими мировыми производителями, такими как Olympus, Nanosensors, NanoWorld, Asylum Research. Зонды совместимы с атомно-силовыми микроскопами любых производителей.
Анализатор теплопроводности DTC-300 – исследовательский прибор, с возможностью проведения измерений при заданной температуре. Благодаря своей универсальности, анализатор DTC-300 идеально подходит для исследования теплофизических свойств различных материалов.