На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Сканирующая зондовая микроскопия - MFP-3D™ Infinity

Производители
Asylum Research

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


MFP-3D™ Infinity


Производитель: Asylum Research
MFP-3D™ Classic
Увеличить

 

"Endless applications. Unlimited potential"
"Бесконечные возможности применения. Неограниченный потенциал"

  Asylum Research Inc.

Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать образцы большого размера и предоставляют широчайший набор методик и опций для работы с твердотельными образцами, полимерами и биологическими объектами, как на воздухе, так и в жидкости. Микроскопы MFP-3D обеспечат высочайшую точность и результативность Ваших исследований.

Семейство MFP-3D включает несколько моделей, разработанных для удовлетворения разносторонних запросов пользователей:

  • MFP-3D Infinity: флагман семейства микроскопов MFP-3D. Он вобрал все лучшее от MFP-3D Classic но оснащен новой быстрой электроникой и прецизионной механикой.
  • MFP-3D Classic: производительность и универсальность для среднего бюджета. Исследование образцов большого размера, широкий набор методик и опций. Подробнее…
  • MFP-3D-BIO: АСМ для исследований биологических объектов, сочетающий молекулярное разрешение АСМ с инвертированной оптической микроскопией. Подробнее…
  • MFP-3D Origin: упрощенная версия микроскопа MFP-3D для небольшого бюджета. Допускает последующий апгрейд до полноценного MFP-3D Classic или BIO с полным набором опций. Подробнее…

Технические особенности MFP-3D Infinity

Новинка 2014 года!

Микроскоп MFP-3D Infinity − новый член семейства микроскопов MFP-3D. Он вобрал все лучшее от MFP-3D Classic но оснащен новой быстрой электроникой и прецизионной механикой. 

MFP-3D Infinity полностью совместим с широким набором модулей, приставок и аксессуаров, доступных для линейки микроскопов MFP-3D.

Также вы можете ознакомиться с галереей изображений, полученных на микроскопах MFP-3D.

Еще точнее, еще быстрее!

 

Микроскоп MFP-3D Infinity


Основные технические новшесва, заложенные в конструкцию MFP-3D Infinity:

  • Точное сканирование обеспечено сверхнизким уровнем шумов датчиков позиционированияX,Y <150 пм, Z <35 пм
  • Увеличенный частотный диапазон работы Z сканнера и детектора обеспечивают точный контроль силы и высокую скорость сканирования.
  • Новый облегченный алюминиевый корпус головной части для комфортной работы.
  • Новая оптическая система обеспечивает изображения высокого разрешения при наблюдении как сверху, так и снизу образца.

 

Новые программные опции

Mode Master


GetStarted:

  • Автоматический подбор параметров сканирования в режиме прерывистого контакта (tapping mode) (setpoint, усиление сигнала обратной связи, скорость сканирования) для получения изображений превосходного качества.
  • Интеллектуальный «предсказывающий» алгоритм – яснее и надежнее, чем методы итерационной оптимизации других производителей, часто сводящиеся к уменьшению скорости и увеличению силы.
  • Получение высококачественного изображения с первой линии скана – нет повреждений зонда или образца в процессе оптимизации параметров.

GetReal™:

  • Калибровка жесткости кантилевера и чувствительности без касания поверхности зондом!
  • Позволяет получать качественные и точные  силовые данные.
  • Быстро, просто и точно!

 

Дополнительные возможности

Смесь полистирола и поликапролактона

Смесь полистирола (E’~3ГПа) и поликапролактона (E’~350МПа). Изображение получено в режиме Fast force mapping. Модуль упругости показан на 3D топографии, скан 4 мкм.


Новый быстрый контроллер позволяет сканировать в различных режимах, получать и обрабатывать большой поток данных

 

  • AM-FM Viscoelastic Mapping Mode* - получение информации одновременно о модулях упругости и потерь. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 50 кПа – 300 ГПа. Сканирование со скоростью обычного режима прерывистого контакта.
  • Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode* - получение информации одновременно о модулях упругости и потерь. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 1 ГПа – 300 ГПа. Частота сканирования строк 0,1-2Гц.
  • Fast Force Mapping Mode* – режим быстрой регистрации силовых кривых. Пиксельная скорость до 300 Гц! Изображение сохраняет каждую силовую кривую, возможна офлайн обработка данных для расчета модулей материала, адгезии и других свойств. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 10 кПА – 100 ГПа.

 

* - Функция является опцией и требует дополнительных модулей, не входящих в стандартную комплектацию


Методики СЗМ микроскопа MFP-3D Infinity

Стандартные:

  • контактный режим (contact mode);
  • метод латеральных сил (LFM);
  • режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера;
  • Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности;
  • электро-силовая микроскопия (EFM);
  • метод зонда кельвина (KPFM);
  • магнитно-силовая микроскопия (MFM);
  • микроскопия пьезо-отклика (PFM);
  • силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме;
  • MicroAngelo - нанолитография и наноманипулирование;
  • сканирование в жидкости;

Опциональные режимы:

  • микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении;
  • AM-FM Viscoelastic Mapping Mode – исследование механических свойств поверхности, количественное определение модулей упругости и потерь;
  • сканирующая туннельная микроскопия (STM);
  • сканирующая тепловая микроскопия (SThM);
  • приложение внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии;
  • определение температуры плавления локальной области образца (Ztherm);
  • высоковольтная микроскопия пьезо-отклика (PFM), подача до ±150 В на зонд. Исследование пробоя диэлектриков;
  • наноиндентирование.


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design