 |
Наноинденторы NanoFlip |
Система для наноиндентирования в вакуумных камерах и иных измерительных системах при комнатной температуре
Уникальный наноиндентор для интеграции с любыми системами получения изображений: СЭМ/ФИП (с любым размером вакуумной камеры), АСМ, оптическими микроскопами и профилометрами, Раман-микроскопами, рентгеновскими дифрактометрами и т.д. Индивидуальный дизайн под каждую конкретную модель аналитических систем или систем напыления пленок.
- Возможность работы как в вакууме, так и на воздухе
- Наклон образца на 90 градусов для удобства интеграции
- Метрологические характеристики такие же, как у iNano
- Диапазон перемещений: 21х21х25 мм (X-Y-Z)
- Опция скретч-тестирования с максимальной нормальной нагрузкой до 50 мН, расстоянием скретч-тестирования 2.5 мм и скоростью до 500 мкм/с
- Возможность 3D- и 4D-картирования (при приобретении необходимых опций ПО)
|
