На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - F10-RT

Последние новости
[13.01.2021]
Как повысить эффективность солнечных элементов?
Читать далее»
[29.12.2020]
С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2021 г.
Читать далее»
[09.11.2020]
Фурье-БИК анализаторы ANTARIS
Читать далее»
[05.11.2020]
Раман спектрометр iXR
Читать далее»
[04.11.2020]
Конкурс вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
[03.11.2020]
Анонс вебинара и конкурса вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


F10-RT


Производитель: Filmetrics
F10-RT
Увеличить

 

Анализатор F10-RT обеспечивает возможность получения значений пропускания и отражающей способности по одному клику, менее чем за секунду. В стандартной конфигурации также отображается анализ цветности. Диапазон измерений – от 190 до 1700 нм (в зависимости от конфигурации источника излучения).

 


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design