Анализ поверхности и наноструктур - F3-CS
Последние новости |
[13.01.2021]
Как повысить эффективность солнечных элементов?
Читать далее»
|
[29.12.2020]
С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»
|
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
|
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2021 г.
Читать далее»
|
[09.11.2020]
Фурье-БИК анализаторы ANTARIS
Читать далее»
|
[05.11.2020]
Раман спектрометр iXR
Читать далее»
|
[04.11.2020]
Конкурс вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
|
[03.11.2020]
Анонс вебинара и конкурса вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
|
...История новостей
|
|
|
|
F3-CS |
Анализатор F3-CS - простой и надежный инструмент для измерения толщины, отражающей способности и коэффициента преломления для небольших образцов. Разработан для образцов-свидетелей, компактен, легко может переноситься с места на место. Для толщины пленок от 1 нм до 450 мкм (в зависимости от модели).
|
Назад
|