На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры Наномеханические испытания РФЭ и Оже-спектрометры Системы микроанализа для электронных микроскопов Субмикронная ИК-спектроскопия Сканирующая зондовая микроскопия Анализаторы толщины пленок Filmetrics Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - F3-CS

Последние новости
[13.01.2021]
Как повысить эффективность солнечных элементов?
Читать далее»
[29.12.2020]
С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2021 г.
Читать далее»
[09.11.2020]
Фурье-БИК анализаторы ANTARIS
Читать далее»
[05.11.2020]
Раман спектрометр iXR
Читать далее»
[04.11.2020]
Конкурс вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
[03.11.2020]
Анонс вебинара и конкурса вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


F3-CS


Производитель: Filmetrics

Увеличить

Анализатор F3-CS - простой и надежный инструмент для измерения толщины, отражающей способности и коэффициента преломления для небольших образцов. Разработан для образцов-свидетелей, компактен, легко может переноситься с места на место. Для толщины пленок от 1 нм до 450 мкм (в зависимости от модели).

 


Назад


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design