На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры Наномеханические испытания РФЭ и Оже-спектрометры Системы микроанализа для электронных микроскопов Субмикронная ИК-спектроскопия Сканирующая зондовая микроскопия Анализаторы толщины пленок Filmetrics Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - F20

Последние новости
[13.01.2021]
Как повысить эффективность солнечных элементов?
Читать далее»
[29.12.2020]
С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[21.12.2020]
Анонс курса повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2021 г.
Читать далее»
[09.11.2020]
Фурье-БИК анализаторы ANTARIS
Читать далее»
[05.11.2020]
Раман спектрометр iXR
Читать далее»
[04.11.2020]
Конкурс вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
[03.11.2020]
Анонс вебинара и конкурса вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


F20


Производитель: Filmetrics

Увеличить

F20 - базовая модель анализатора толщины Filmetrics.

Благодаря своей модульной природе, данный анализатор толщины может использоваться для решения широкого круга задач:

  • определение толщины, коэффициента преломления, отражающей способности и пропускания одно- и многослойных пленок, мембран, пленок жидкости или воздушных зазоров;
  • измерение на плоских или выпуклых/вогнутых поверхностях, с размером пятна от 20 мкм, с возможностью картирования или встраивания в системы получения пленок
  • толщина анализируемых пленок – от 1 нм до 450 мкм. 

для подбора модели анализатора, подходящей именно для решения Ваших задач.

    Типичные области применения анализатора толщины F20:

    ·       полупроводниковая промышленность

    • толщина фоторезиста
    • толщина органических пленок при получении светодиодов (OLED)
    • толщина стекла, ITO
    • толщина диэлектриков и иных пленок

    ·       Оптические покрытия

    • толщина упрочняющих покрытий
    • толщина антиотражающих покрытий

    ·       Биомедицина

    • Прозрачные покрытия на устройствах медицинского назначения
    • Парилен

     

     


    Назад


    О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
    Тел/факс:(495)232-4225
    E-mail:
    Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design