На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами
РФЭ и Оже-спектрометры Оптические и стилусные профилометры Сканирующая зондовая микроскопия Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

Анализ поверхности и наноструктур

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие наноинденторы, сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.

 

Ближайшие семинары
25.11.2013 - 25.11.2013
Семинар "Современное научное и аналитическое оборудование"
г. Баку, отель "Park Inn by Radisson"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Исследование поверхности и наноструктур
Элементный анализ
 


задать вопрос менеджеру  

 
О компании Новости Оборудование Мебель Комплексные проекты Применение Библиотека Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design