INTERTECH Corporation
8-800-200-4225
РАСШИРЕННЫЙ ПОИСК
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Статья по ICP в журнале American Laboratory (июль-2009)

Последние новости
[26.08.2009]
Статьи по применению методов термического анализа и реологии
[25.08.2009]
Атомно-силовые микроскопы Asylum Research
Читать далее»
[19.08.2009]
Статья по ICP в журнале American Laboratory (июль-2009)
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
13.09.2009 - 18.09.2009
Международная конференция "Современные нанотехнологии"
г. Екатеринбург
Читать далее»
08.09.2009 - 11.09.2009
I Международный конгресс-выставка "Цветные металлы Сибири-2009"
г. Красноярск
Читать далее»
06.09.2009 - 11.09.2009
I Международная школа-конференция по краун-соединениям, порфиринам и фталоцианинам
г. Туапсе
Читать далее»
Больше семинаров



[19.08.2009]

Статья по ICP в журнале American Laboratory (июль-2009)

В июльском номере журнала American Laboratory опубликована статья специалистов INTERTECH Corporation к.х.н. Бухбиндера Г.Л., Верблюдова Н.А. при участии Клэверинга А. "ICP спектрометрия с приставкой искрового пробоотбора SSEA для быстрого определения примесей в серебре". Предлагаем ознакомиться с данной статьей


« вернуться


Главная О компании Новости Оборудование Статьи и материалы Семинары Контакты Сервис Вакансии
Тел.:(495)232-4225, 783-3590 (многоканальный)
Факс: (495)783-3591
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design