На главную 8-800-200-42-25
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами
ИК-Фурье спектрометры ИК-микроскопы Раман-спектрометры (спектрометры комбинационного рассеяния) Фурье-БИК анализаторы УФ/Вид. спектрофотометры Люминесцентные спектрометры
Молекулярный анализ -

Молекулярный анализ

В этом разделе представлено оборудование, в основе которого заложены методы молекулярной спектроскопии в оптическом диапазоне (инфракрасной спектроскопии, спектроскопии в ближней ИК области, спектроскопии комбинационного рассеяния; УФ-видимой спектроскопии): ИК-Фурье спектрометры, ИК-микроскопы, Раман спектрометры, Фурье-БИК анализаторы, УФ/Видимые спектрофотометры

Ближайшие семинары
03.10.2011 - 07.10.2011
11th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures
г. Санкт-Петербург
Читать далее»
03.10.2011 - 07.10.2011
Российский конгресс по катализу "РОСКАТАЛИЗ"
г. Москва, МГУ/ГК "Измайлово"
Читать далее»
27.09.2011 - 30.09.2011
Международный форум "Комплексное обеспечение лабораторий" и форум фармацевтической индустрии
г. Киев, ВЦ "КиевЭкспоПлаза"
Читать далее»
21.09.2011 - 22.09.2011
Cеминар компании INTERTECH Corporation "Современное научное и аналитическое оборудование"
г. Алматы, Казахстан
Читать далее»
19.09.2011 - 23.09.2011
XV научно-практический семинар "Вопросы аналитического контроля качества вод"
г. Москва, ГК "Узкое"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Термоанализ и реология
Исследование поверхности и наноструктур
Молекулярный анализ
 


задать вопрос менеджеру  

 
Главная О компании Новости Оборудование Применение Статьи и материалы Мероприятия Комплексные проекты Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design