INTERTECH Corporation
8-800-200-4225 Русская версия English version
РАСШИРЕННЫЙ ПОИСК
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Семинар INTERTECH Corporation в Москве

Последние новости
[21.10.2010]
Семинар в Москве
Читать далее»
[20.10.2010]
III Международная выставка по нанотехнологиям "Rusnanotech-2010"
Читать далее»
[18.10.2010]
Оптические и стилусные профилометры KLA - Tencor
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
01.11.2010 - 03.11.2010
III Международная выставка по нанотехнологиям Rusnanotech-2010
г. Москва, ЦВК "Экспоцентр"
Читать далее»
27.10.2010 - 28.10.2010
X научно-практический семинар "Современное научное и аналитическое оборудование"
г. Москва; Korston Hotel Moscow (27 октября) / Объединенный центр исследований и разработок (28 октября)
Читать далее»
Больше семинаров



[20.09.2010]

Семинар INTERTECH Corporation в Москве

Уважаемые дамы и господа!

 

Приглашаем Вас 27 и 28 октября 2010 г. принять участие в Юбилейном X научно-практическом семинаре компании INTERTECH Corporation: «Современное научное и аналитическое оборудование»

 

В программе семинара:

 

27 октября 2010г. (среда) - первый день семинара (День пленарных докладов)

 

27 октября 2010г. (среда), с 10-30-18.00 пленарные доклады

Место проведения Семинара 27 октября 2010г.: Korston Hotel Moscow, конференц-зал Chantant (г. Москва, ул. Косыгина, 15; м. Ленинский проспект)

 

Новейшее научное и аналитическое оборудование корпорации Thermo Fisher SCIENTIFIC по направлениям:

Молекулярный анализ:

  • ИК-Фурье спектрометры, ИК микроскопы, КР спектрометры и КР микроскопы, БИК-анализаторы;
  • УФ-Вид. спектрофотометры;

 

Элементный анализ:

  • атомно-эмиссионные спектрометры с индуктивно связанной плазмой;
  • квадрупольные масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой;
  • атомно-абсорбционные спектрометры

Исследование поверхности и наноструктур:

  • РФЭС спектрометры и системы анализа поверхности;
  • оборудование для наноструктурного анализа материалов и покрытий других производителей (атомно-силовые микроскопы Asylum Research; системы наномеханических испытаний Hysitron Inc., и др.)

 

Новейшее оборудование для термоанализа и реологии TA Instruments (ранее DuPont):

  • дифференциальные сканирующие калориметры; микрокалориметры;
  • термогравиметрические анализаторы / синхронный термоанализатор;
  • термомеханические и динамические анализаторы;

 

Оборудование для мониторинга загрязнения воздуха (TEI, Synspec b.v., Unisearch Associates Inc.) и управления технологическими процессами (Thermo Fisher Scientific)

 

Доклады представлены зарубежными специалистами приборостроительных предприятий и ведущими специалистами компании INTERTECH Corporation.

 

27 октября 2010г. (среда), с 18-00-20.00 Фуршет в честь 20-летия компании

 

28 октября 2010г. (четверг) - второй день Семинара (Секционный день)

 

28 октября 2010г. (четверг), с 10-00-17.00 Презентации, круглые столы и демонстрации оборудования по направлениям:

  • Молекулярный анализ;
  • Элементный анализ:
  • Исследование поверхности и наноструктур;
  • Термоанализ и реология

 Место проведения Семинара 28 октября 2010г. : “Объединенный центр исследований и разработок” (ранее ЦИР ЮКОСа), конференц-залы и переговорные комнаты

(г. Москва,  Ленинский проспект д. 55/1, стр.2; м. Ленинский проспект или м. Академическая)

28 октября 2010г. (четверг), с 17-00-18.30 Коктейль

 

 

Участие в семинаре бесплатное.

 

Для участия в семинаре необходимо заполнить регистрационную форму на каждого участника Семинара (нажмите ниже "Скачать файл") и отправить ее до 15 октября 2010 г. по электронному адресу  

 

Контактное лицо: Ракова Ольга Анатольевна  

 

 

С уважением,

Оргкомитет Семинара


« вернуться


Главная О компании Новости Оборудование Применение Статьи и материалы Мероприятия Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design