INTERTECH Corporation
8-800-200-4225 Русская версия English version
РАСШИРЕННЫЙ ПОИСК
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

III Международная выставка по нанотехнологиям "Rusnanotech-2010"

Последние новости
[23.12.2010]
Новогоднее поздравление
Читать далее»
[21.12.2010]
Новый режим АСМ от Asylum Research - Микроскопия Электрохимического Напряжения
Читать далее»
[26.11.2010]
Оптические и стилусные профилометры KLA - Tencor
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
02.03.2011 - 03.03.2011
V выставка-конференция по криминалистике и судебно-медицинской экспертизе
ГУ ЭКЦ МВД РФ
Читать далее»
Больше семинаров



[20.10.2010]

III Международная выставка по нанотехнологиям "Rusnanotech-2010"

Уважаемые дамы и господа! Приглашаем Вас посетить III Международную выставку по нанотехнологиям Rusnanotech-2010 , которая состоится 1-3 ноября 2010 г. в Москве (ЦВК "Экспоцентр") 

На стенде нашей компании D13-1 можно ознакомиться с новым оборудованием для исследования наноразмерных структур и исследования поверхности, получить консультации специалистов по выбору научного и аналитического оборудования.

Будем рады встрече с Вами на выставке!


« вернуться


Главная О компании Новости Оборудование Применение Статьи и материалы Мероприятия Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design