INTERTECH Corporation
8-800-200-4225 Русская версия English version
РАСШИРЕННЫЙ ПОИСК
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Anasys Instruments

Ближайшие семинары
07.07.2010 - 09.07.2010
Курс повышения квалификации по ИК-Фурье спектроскопии
г. Москва, МИТХТ
Читать далее»
31.05.2010 - 04.06.2010
XXIII Российская конференция по электронной микроскопии РКЭМ-2010
г. Черноголовка, Московская область
Читать далее»
Больше семинаров


Приставки для термоанализа поверхностных структур

Второе поколение приборов Nano-TA, расширенное мощным DSP контроллером и позволяющее проводить локальный термоанализ с нанометровым разрешением на большинстве коммерчески выпускаемых АСМ.
приборы Anasys Instruments

Vesta - первый в мире прибор для локального ТМА анализа на микро и нано уровне. В сочетании с TTM (микроскопия температур перехода) прибор снискал большую популярность в фармацевтических исследованиях, материаловедении, исследованиях полимеров, наноиндустрии
 
Главная О компании Новости Оборудование Применение Статьи и материалы Мероприятия Контакты Сервис Вакансии
Тел.:(495)232-4225, 783-3590 (многоканальный)
Факс: (495)783-3591
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design