На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Атомно-абсорбционные спектрометры Эмиссионные спектрометры с индуктивно-связанной плазмой Масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой Водоподготовка Системы очистки кислот Фотометрические анализаторы Gallery

Масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой - Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой XSeries 2

Производители
Thermo Scientific

Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
30.05.2017 - 02.06.2017
Курс повышения квалификации по термоанализу
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
22.05.2017 - 31.05.2017
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
г. Санкт-Петербург, Гражданский пр-т, 11, "Институт Гипроникель"
Читать далее»
16.05.2017 - 16.05.2017
Семинар по методам термоанализа
г. Москва, ИОНХ им. Н. С. Курнакова РАН
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой XSeries 2


Производитель: Thermo Scientific
Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой XSeries 2

 

 

 

 

 

 

В стандартном режиме масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой XSeries 2 демонстрирует следующие наиболее важные характеристики:

  • Чувствительность не менее (Мимп·ppm/сек): 6 (7Li), 15 (59Co), 40 (115In), 80 (238U) со стандартным Xt интерфейсом;
  • Фон на массах 5, 110 и 220 а.е.м. менее 0,5 имп/сек;
  • Отношение сигнал/шум не менее 80?106 (115In/220 а.е.м);
  • Уровень оксидных ионов (СеО/Се) не более 3% (2% с Пельтье-охлаждением);
  • Уровень двухзарядных ионов (Ва++/Ва+) не более 3%;
  • Кратковременная стабильность результатов – 2%, долговременная стабильность – 3%;
  • Динамический диапазон: более 9 порядков;
  • Изотопическая чувствительность: 10-6 (m-1), 5?10-7 (m+1);

Программное обеспечение PlasmaLab позволяет:

  • Проводить обработку полученных данных, одновременно с процессом анализа;
  • Проводить масштабную пост-обработку данных;
  • Устанавливать любые параметры прибора (настройки ионной оптики, разрешение, расход распылительного газа, скорость подачи пробы и др.) для любого определяемого в эксперименте изотопа;
  • Получать полный спектр пробы наряду со спектром в режиме «прыжков по верхушкам пиков» и использовать полученный спектр для полуколичественного определения изотопов, не включенных в основную калибровку;
  • Проводить визуальную идентификацию принадлежности пиков в спектре и различать интерференции и истинные сигналы аналитов;


Назад


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design