На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии

Последние новости
[02.06.2017]
Росприроднадзор уточнил критерии отнесения объектов, оказывающих негативное воздействие на окружающую среду
Читать далее»
[25.05.2017]
Поздравляем специалистов химической и смежных отраслей с наступающим профессиональным праздником!
Читать далее»
[17.05.2017]
Вебинар по масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[16.05.2017]
Сегодня проводим семинар по термоанализу в ИОНХ РАН
Читать далее»
[10.05.2017]
Синхронный термоанализатор Discovery SDT 650
Читать далее»
[09.05.2017]
Поздравляем с Днем Победы!
[02.05.2017]
Семинар по методам термоанализа. Конкурс лучших вопросов
Читать далее»
[28.04.2017]
Семинар по методам термоанализа в Красноярске
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
07.06.2017 - 07.06.2017
Вебинар по масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Online, 11.00 мск.
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


27.06.2017 - 30.06.2017

КУРС ПОВЫШЕНИЯ КВАЛИФИКАЦИИ ПО ИК СПЕКТРОСКОПИИ

Место проведения: НИТУ "МИСиС", г. Москва

Приглашаем принять участие в работе курса повышения квалификации "Физико-химические методы анализа. Методы ИК спектроскопии: теория и практика", который состоится 27 июня – 30 июня  2017 г. 

Заявки принимаются с 24 апреля 2017 г.

Подробная информация »

отправить заявку  

« вернуться


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design