На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Новые разработки

Последние новости
[20.04.2017]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[19.04.2017]
Семинар по методам термоанализа в Москве
Читать далее»
[18.04.2017]
Цикл вебинаров по реологии
Читать далее»
[03.04.2017]
Приглашаем посетить выставку "АналитикаЭкспо-2017"
Читать далее»
[03.04.2017]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[02.04.2017]
Поздравляем с профессиональным праздником - с Днем геолога!
Читать далее»
[31.03.2017]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[30.03.2017]
Семинар по оборудованию для контроля качества воды (в Украине). Фотоотчет
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
27.06.2017 - 30.06.2017
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
30.05.2017 - 02.06.2017
Курс повышения квалификации по термоанализу
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
22.05.2017 - 31.05.2017
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
г. Санкт-Петербург, Гражданский пр-т, 11, "Институт Гипроникель"
Читать далее»
16.05.2017 - 16.05.2017
Семинар по методам термоанализа
г. Москва, ИОНХ им. Н. С. Курнакова РАН
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


Анализ поверхности и наноструктур

ИК спектроскопия поверхности в наномасштабе

Платформа nanoIR2 для нано-ИК анализа

Компания Intertech Corporation представляет Вашему вниманию системы для нано-ИК анализа производства американской фирмы Anasys Instruments (Santa-Barbara, CA). Впервые ученые имеют возможность исследовать поверхность, комбинируя наглядность метода АСМ с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии и термоанализа. Новейшие патентованные разработки компании Anasys Instruments воплощенные в платформах nanoIRTM и nanoIR2TM, объединяют эти подходы, позволяя получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца со 100-наномеровым разрешением!

Подробнее >>


Нано-термоанализ

Контроллер опции нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии

Опцию нано-термоанализа nano-TA2 для атомно-силовой микроскопии разработана Anasys Instruments (Santa-BarbaraCA) и совместима с АСМ платформами всех мировых производителей, таких как NT-MDTBrukerAsylumResearchAnasys Instruments. Назовите вашу модель микроскопа, и мы предложим решение!

Подробнее >>



« Вернуться

О компанииНовостиОборудованиеLIMSКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Создание сайта Wilmark Design