[03.02.2012] Семинар по анализу поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности
14 февраля 2012 г. состоится семинар INTERTECH Corp "Новейшее оборудование компании KLA-Tencor (США) для инспекции и анализа поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности"
Читать далее» |
 |
[01.02.2012] Серия вебинаров по атомно-силовой микроскопии
22 февраля 2012 г. компания Asylum Research открывает серию вебинаров "Точнее и чище: АСМ изображения сверхвысокой четкости"
Читать далее» |
|
[17.01.2012] Зимний симпозиум и школа по хемометрике
27 февраля - 2 марта 2012 г. состоится 8-й международный зимний симпозиум "Современные методы анализа многомерных данных" (WCS8) и школа по хемометрике
Читать далее» |
|
[12.01.2012] 10-я международная специализированная выставка "Aналитика Экспо-2012"
Компания INTERTECH Corporation приглашает посетить международную выставку аналитического оборудования 10-13 апреля 2012 г. в КВЦ "Сокольники".
Читать далее» |
|
[11.01.2012] Международный семинар по системам для наномеханических испытаний в Германии
Семинар Nanobruken II "Hybrid Nanomechanical Testing Techniques" состоится 22-23 марта 2012 г. в Институте новых материалов (INM) г. Саарбрюкена (Германия)
Читать далее» |
|
[21.12.2011] Поздравление с наступающими новогодними праздниками
Компания INTERTECH Corporation поздравляет всех с Новым 2012 годом и Рождеством!
Читать далее» |
|
[09.12.2011] Анонс курсов повышения квалификации INTERTECH Corporation в МИТХТ им. М.В. Ломоносова
Компания INTERTECH Corporation, МИТХТ им М.В. Ломоносова и УНЦ "СИНТЕЗ" приглашают в июне 2012 года принять участие в курсах повышения квалификации по ИК-Фурье спектроскопии и методам термического анализа
Читать далее» |
|
[28.11.2011] Webinar Thermo Scientific по элементному анализу в пищевой отрасли
1 декабря 2011г. Thermo Scientific будет проводить вебинар для специалистов, занимающихся элементным анализом в пищевой промышленности: "Elemental analysis of Food and Beverages - Are you ready for the future?". Вебинар на английском языке. Зарегистрироваться можно по ссылке |
|
[15.11.2011] Приборы для измерения теплопроводности
Предлагаем ознакомиться с приборами TA Instruments серии DTC для измерения теплопроводности твердых образцов методом теплового потока
Читать далее» |
|
[10.11.2011] Новая статья по Раман спектроскопии
Статья "Спектроскопия комбинационного рассеяния - перспективный метод исследования углеродных наноматериалов" опубликована в первом номере нового журнала "Аналитика"
Читать далее» |
|
