На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Библиотека

Последние новости
[03.02.2012]
Семинар по анализу поверхности в микро-, наноэлектронике, полупроводниковой промышленности
Читать далее»
[01.02.2012]
Серия вебинаров по атомно-силовой микроскопии
Читать далее»
[17.01.2012]
Зимний симпозиум и школа по хемометрике
Читать далее»
[12.01.2012]
10-я международная специализированная выставка "Aналитика Экспо-2012"
Читать далее»
[11.01.2012]
Международный семинар по системам для наномеханических испытаний в Германии
Читать далее»
[21.12.2011]
Поздравление с наступающими новогодними праздниками
Читать далее»
[09.12.2011]
Анонс курсов повышения квалификации INTERTECH Corporation в МИТХТ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
[28.11.2011]
Webinar Thermo Scientific по элементному анализу в пищевой отрасли
...История новостей
Ближайшие семинары
10.04.2012 - 13.04.2012
10-я Международная специализированная выставка "Аналитика Экспо 2012"
г. Москва, КВЦ "Сокольники"
Читать далее»
14.02.2012 - 14.02.2012
Семинар "Новейшее оборудование KLA-Tencor для анализа поверхности в микро- и наноэлектронике"
ОАО "Мосэлектронпроект"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Термоанализ и реология
Исследование поверхности и наноструктур
Молекулярный анализ
 


    Брошюра "Аналитические приборы и оборудование INTERTECH Corporation"
    Буклет "Комплексные проекты лабораторий"
    Буклет "Аналитическое оборудование для научно-исследовательских лабораторий"
    Специализированные отраслевые материалы
    Буклет "Аналитическое оборудование для элементного анализа"
    Подготовка проб к анализу методами атомной спектрометрии
    Материалы по атомно-абсорбционным спектрометрам
    Применение эмиссионных спектрометров с индуктивно-связанной плазмой
    Применение масс-спектрометров с индуктивно-связанной плазмой
    Применение ИК-Фурье спектрометров и ИК-микроскопов
    Применение Фурье-БИК анализаторов
    Применение Раман-спектрометров (спектрометров комбинационного рассеяния) и Раман микроскопии
    Материалы по применению методов термического анализа и реологии
    Сканирующая зондовая и атомно-силовая микроскопия от Asylum Research
    Новейшие разработки в области оборудования для анализа поверхности ЭСХА - методами
    K-Alpha - система нового поколения для анализа поверхности материалов и покрытий
    Применение метода РФЭС для анализа энергогенерирующих материалов
    Исследование механических свойств материалов
    Материалы по мониторингу загрязнения воздуха
    Анализатор серы в потоке - SOLA II
    Контрольно-измерительное оборудование в потоке
О компанииНовостиОборудованиеМебельКомплексные проектыПрименениеБиблиотекаКонтактыСервисВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Создание сайта Wilmark Design