На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по атомно-силовой микроскопии 9 декабря

Последние новости
[12.04.2015]
Вебинар по атомно-силовой микроскопии 28 апреля 2015 г.
Читать далее»
[08.04.2015]
Вебинар по термическому анализу
Читать далее»
[07.04.2015]
Новинки в библиотеке статей TA Instruments
Читать далее»
[30.03.2015]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[30.03.2015]
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[24.03.2015]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Читать далее»
[13.03.2015]
IX Международная конференция горно-металлургического комплекса в Казахстане
Читать далее»
[10.03.2015]
Размещение информации о дилатометрах
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
29.06.2015 - 02.07.2015
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
МИТХТ им. М. В. Ломоносова, г. Москва
Читать далее»
15.06.2015 - 18.06.2015
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
МИТХТ им М.В. Ломоносова, г. Москва
Читать далее»
25.05.2015 - 03.06.2015
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
Институт Гипроникель, г. Санкт-Петербург
Читать далее»
19.05.2015 - 19.05.2015
Вебинар по исследованию биообъектов методом АСМ
Online, 11.00-12.00 мск.
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[03.12.2014]

Вебинар по атомно-силовой микроскопии 9 декабря


Увеличить

Приглашаем специалистов по атомно-силовой микроскопии посетить вебинар "Новейшие технологии в АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилевера, сканирование в контролируемой среде".

- Что такое фототермическое возбуждение кантилевера blueDrive и в чем преимущество при сканировании в жидкости?
- Как различить точечные дефекты поверхности кристаллов в режиме АСМ?
- В чем плюсы использования коротких кантилеверов?
- Какие возможности открывает проведение экспериментов в контролируемой жидкости или газовой среде?
- Возможно ли рутинно разрешать двойную спираль ДНК?
Эти и другие вопросы будут подробно освещены в ходе нашего вебинара. Участники вебинара смогут задать свои вопросы докладчику.
 

Докладчик: Иван Леонидович Волков, к.ф.-м.н., специалист по применению атомно-силовой микроскопии Московского представительства компании INTERTECH Corp.

Участие в вебинаре - бесплатное, по предварительной регистрации.

Специальный приз. Участник, отправивший до 9 декабря 2014 г. лучший вопрос по тематике вебинара на e-mail [email protected] , получит в подарок книгу Greg Haugstad "Atomic Force Microscopy". О книге »

Подробнее о вебинаре »

Зарегистрироваться »

 

Скачать файл

« вернуться


О компании Новости Оборудование Мебель Комплексные проекты Применение Библиотека Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design