Новый сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Caliber – идеальный стартовый вариант для исследовательских и производственных лабораторий, сочетающий в себе высокое разрешение и низкую цену. Новый «мини-микроскоп» Caliber - компактный портативный прибор, имеет открытую архитектуру, сканер с системой линеаризации, широкие возможности программного обеспечения, несколько режимов измерений. Caliber работает с образцами различного размера, используется в исследованиях поверхности материалов, в том числе полимеров, тонких пленок.

Новый атомно-силовой микроскоп BioScope SZ – усовершенствованная модель BioScope, снабжен новым сканером с системой линеаризации Hybrid XYZ Scanner, дающим непревзойденно высокое разрешение. Сканер Hybrid XYZ дает шум датчика перемещений по Z в 6 раз ниже, обеспечивает точный контроль перемещений по X/Y, необходимый для манипуляций молекулами, и высокоточное позиционирование по 3 осям для экспериментов по растяжению.

Атомно-силовой микроскоп для биомедицинских приложений принципиально НОВОЙ конструкции BioScope II – простой в обращении АСМ высокого разрешения, совместимый со всеми возможностями современных инвертированных оптических микроскопов, включая инвертированный конфокальный микроскоп и TIRF. Прямой доступ оптики снизу дает полную совместимость с большинством конденсоров, числовая апертура до 0.55NA, возможность применения методов фазового контраста, дифференциального фазового контраста, светлого поля. Инфракрасный лазер снижает шум и улучшает совместимость с флуоресцентными методами.
Диапазон по Z – более 15 мкм, по XY – более 150 мкм.

Сканирующий зондовый микроскоп Innova дает изображения высокого разрешения и широкий спектр возможностей для работ в области физики, материаловедения и биомедицинских наук. При этом цена системы существенно ниже, чем у систем аналогичного уровня. Изображения, даваемые Innova, могут быть как субмикронными, так и достигать как минимум 90 мкм, при этом при включении системы линеаризации практически не страдает уровень шума, и отсутствует необходимость смены сканеров. Прибор снабжен встроенной цветной оптической видеокамерой и основанием, с программируемым моторизованным перемещением по вертикали (Z).

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) MultiMode самый популярный СЗМ в мире. Включает весь набор режимов атомно-силовой (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Позволяет исследовать не только топографию поверхности, но и такие свойства, как упругость, трение, картировать величину адгезии, магнитного и электростатического полей.

MultiMode V – это новое поколение самого широко используемого и проверенного СЗМ MultiMode. Реализует весь набор методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), выдавая характеристики поверхности, такие как топография, упругость, трение, адгезия и распределение магнитного и электрического полей. Короткий оптический путь между зондом и образцом обеспечивает высокую скорость сканирования и непревзойденную точность.

Новый блок управляющей электроники NanoScope V обеспечивает надежную регистрацию данных, высокоскоростную регистрацию данных для изображений с высокой плотностью информации (5000x5000), позволяет исследователям регистрировать и анализировать взаимодействия зонд-образец, что дает возможность описывать события с характерными временами, ранее недоступными для СЗМ. Этот контроллер последнего поколения позволяет одновременно регистрировать и выводить до 8 изображений, помимо стандартного программного обеспечения имеет простой в использовании графический пользовательский интерфейс Easy-AFM для начинающих пользователей.

Многоцелевая приставка для измерения сил PicoForce даёт беспрецедентную точность, гибкость и воспроизводимость экспериментов по молекулярной биологии и исследованию материалов на наноуровне. Идеально подходит для широкого спектра исследований, начиная от разворачивания белков и связывания антиген-антитело, до упругости мембран и сил Ван-дер-Ваальса. Приспособление для ручного управления PicoAngler позволяет получить «тактильные» ощущения сил межмолекулярного взаимодействия.

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension 3100 реализует все основные методы СЗМ на одной платформе, позволяет исследовать образцы самых разных размеров и типов (до 200 мм в диаметре), работает как в воде, так и в жидкостях. Рекомендован для производителей полупроводниковых пластин и носителей информации, исследований сложных полупроводников, разработки новых материалов, анализа дефектов.

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension V реализует методики атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), применяется для исследования поверхности полупроводниковых пластин, литографических масок, магнитных носителей, CDs/DVDs, биоматериалов, оптики и других образцов диаметром до 200 мм. Простая система наведения лазера и возможность перехода от одной методики к другой без применения инструментов гарантируют гибкость, простоту в обращении и высокую производительность.
Dimension V объединяет в себе хорошо известную и проверенную платформу Dimension и новый блок управляющей электроники NanoScope V. Сканер Hybrid XYZ дает в 6 раз более низкий шум Z-сенсора, точный контроль в плоскости X/Y для манипулирования молекулами, и высокую степень контроля перемещений по всем трем осям, необходимую в экспериментах по «вытягиванию» молекул.

Новый блок управляющей электроники NanoScope V обеспечивает надежную регистрацию данных, высокоскоростную регистрацию данных для изображений с высокой плотностью информации (5000x5000), позволяет исследователям регистрировать и анализировать взаимодействия зонд-образец, что дает возможность описывать события с характерными временами, ранее недоступными для СЗМ. Этот контроллер последнего поколения позволяет одновременно регистрировать и выводить до 8 изображений, помимо стандартного программного обеспечения имеет простой в использовании графический пользовательский интерфейс Easy-AFM для начинающих пользователей.

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension 5000 разработан для работы с широкоформатными образцами, до 350 мм в диаметре, адресован производителям полупроводниковых устройств и носителей информации. Реализуя весь набор методов АСМ и СТМ, этот прибор может измерять шероховатость и другие характеристики образца в трех измерениях, не требуя разрушения образца, а также его предварительной обработки или модификации.

Veeco предлагает несколько мощных электрохимических систем, дающих возможность исследовать электрохимические процессы на поверхности в реальном времени с высоким пространственным разрешением in situ. В комплект каждой системы входит блок управляющей электроники Nanoscope, бипотенциостат/гальваностат, жидкостные ячейки, крепления для электродов.

Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп (ЭХСТМ) дает СТМ-изображения электродов в растворе при электрохимическом контроле с атомным и молекулярными разрешением.
Электрохимический атомно-силовой микроскоп (ЭХАСМ) дает АСМ-изображения поверхности электрода в растворе при электрохимическом контроле с нанометровым разрешением.
Сканирующий микроскоп электрохимического потенциала дает профиль потенциала электрохимического двойного слоя, картирует потенциал поверхности с нанометровым разрешением, дает топографические изображения поверхности. Создан на основе уникальных разработок Veeco.

Атомно-силовой микроскоп EnviroScope позволяет наблюдать реакцию образца на изменения окружающих условий. Образец помещается в герметичную камеру с возможностью откачки вакуума, нагрева, подачи газа, прокачки жидкости. Реализуем широкий спектр режимов получения изображений.

NanoMan VS сочетает в себе проверенную платформу Dimension™ и новый продвинутый блок управляющей электроники NanoScope V, образую preeminent систему для получения изображений высокого разрешения, высоко точной нанолитографии и наноманипуляций.

Сканер Hybrid XYZ дает в 6 раз более низкий шум Z-сенсора, точный контроль в плоскости X/Y для манипулирования молекулами, и высокую степень контроля перемещений по всем трем осям, необходимую в экспериментах по «вытягиванию» молекул.

Новый блок управляющей электроники NanoScope V обеспечивает надежную регистрацию данных, высокоскоростную регистрацию данных для изображений с высокой плотностью информации (5000x5000), позволяет исследователям регистрировать и анализировать взаимодействия зонд-образец, что дает возможность описывать события с характерными временами, ранее недоступными для СЗМ. Этот контроллер последнего поколения позволяет одновременно регистрировать и выводить до 8 изображений, помимо стандартного программного обеспечения имеет простой в использовании графический пользовательский интерфейс Easy-AFM для начинающих пользователей.