На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники

Последние новости
[03.06.2019]
Курс повышения квалификации по реометрии. Фотоотчет
Читать далее»
[23.05.2019]
С наступающим Днем химика!
Читать далее»
[19.04.2019]
Участие в выставке "КомпозитЭкспо-2019" 23-25 апреля 2019 г.
Читать далее»
[16.04.2019]
Выставка "Аналитика Экспо-2019" 23-26 апреля 2019 г.
Читать далее»
[21.03.2019]
Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники
Читать далее»
[18.03.2019]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[11.03.2019]
Курс повышения квалификации по реологии
Читать далее»
[06.03.2019]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[21.03.2019]

Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники

Семинар по микроэлектронике

Уважаемые специалисты микроэлектроники, полупроводниковой промышленности и смежных отраслей!

Приглашаем Вас принять участие в работе научно-практического семинара "Аналитическое оборудование для решения задач микроэлектроники", который будет проходить совместно с компанией СИНЕРКОН, и состоится 11 апреля 2019 г. в Зеленограде.

Адрес проведения: Зеленоград, ул. Юности, д. 8 -  Инновационный кластер "Техноюнити", 11 этаж, зал для мероприятий 

Семинар посвящен аналитическому оборудованию для проведения исследований и контроля качества в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности. В ходе семинара будут проведены презентации оптических микроскопов, ИК-Фурье и Раман спектрометров и микроскопов, профилометров, наноинденторов, измерительных микроскопов, анализаторов толщин многослойных покрытий, атомно-силовых микроскопов ведущих мировых производителей с многочисленными примерами их использования для решения конкретных задач, связанных с микроэлектроникой.

Программа семинара »

Участие в семинаре – бесплатное.

Для участия в семинаре необходимо до 8 апреля 2019 г. (включительно) заполнить на каждого участника электронную регистрационную форму по ссылке

Контактные лица организаторов семинара:

  • Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н. / руководитель направления “Анализ поверхности и наноструктур” компании INTERTECH Corporation, 8-800-200-4225, моб. (916) 529-8385, vsn@intertech-corp.ru
  • Юсупов Артур Аббасович / руководитель отдела микроскопии и твердометрии ООО “СИНЕРКОН”, 8-495-741-5904, моб. (915) 021-1715, yaa@synercon.ru

До встречи на семинаре!

Скачать файл

« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design