На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по оптической профилометрии

Последние новости
[16.04.2018]
Объявляем конкурс "Книга за лучший вопрос"
Читать далее»
[13.04.2018]
Внимание: перенос даты проведения курса повышения квалификации по инфракрасной спектроскопии
Читать далее»
[10.04.2018]
V Международная судостроительная конференция 12-13 апреля 2018 г. (ВК Ленэкспо)
Читать далее»
[03.04.2018]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[02.04.2018]
Вебинар по ИК микроскопии с субмикронным разрешением
Читать далее»
[30.03.2018]
Вебинар по оптической профилометрии
Читать далее»
[23.03.2018]
Оптические профилометры Zeta Instruments
Читать далее»
[19.03.2018]
Открыт прием заявок на курс по термоанализу 22-25 мая 2018 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2018 - 25.05.2018
Курс повышения квалификации по термоанализу
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
21.05.2018 - 30.05.2018
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
24.04.2018 - 26.04.2018
Выставка "Аналитика Экспо 2018"
г. Москва, ВЦ "Сокольники"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[30.03.2018]

Вебинар по оптической профилометрии

Вебинар по оптической профилометрии

Приглашаем специалистов по исследованию поверхности принять участие в вебинаре 12 апреля, в четверг, в 11.00 (мск) «Технология ZDot: оптическая профилометрия без ограничений».

Вебинар посвящен уникальной запатентованной технологии ZDot, которая позволяет снять традиционные ограничения использования оптической профилометрии и при этом получить полноцветное изображение поверхности материалов. В ходе вебинара будет подробно рассмотрена сама технология, многочисленные примеры ее применения, а также оборудование на основе данной технологии (производитель – Zeta Instruments, подразделение KLA-Tencor).

Данный вебинар будет интересен специалистам по исследованиям и разработке новых материалов, в том числе в микроэлектронике, инженерам и метрологам производства светодиодов, солнечных модулей, МЭМС, печатных плат и т.д.

В отличие от обычных оптических профилометров-интерферометров, профилометры на основе технологии ZDot позволяют эффективно работать с:

  • прозрачными и многослойными пленками и покрытиями
  • материалами с низкой отражающей способностью и низким контрастом
  • материалами с высокими значениями шероховатости
  • материалами с большими перепадами высот
  • глубокими канавками и отверстиями с высоким аспектным отношением

Посетите наш вебинар, чтобы узнать, как!

Регистрация на вебинар » 

Вебинар проведет Неудачина Вера Сергеевна, руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур», к.х.н.

Узнать больше о 3D оптических профилометрах Zeta Instruments »


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design