На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Вебинар по оптической профилометрии

Последние новости
[10.07.2018]
Термоанализатор Discovery SDT 650 внесен в Госреестр СИ
Читать далее»
[26.06.2018]
Конференции по материаловедению
Читать далее»
[15.06.2018]
Курс повышения квалификации по термоанализу 2018. Фотоотчет
Читать далее»
[25.05.2018]
Поздравляем специалистов химической и смежных отраслей с наступающим праздником!
Читать далее»
[23.05.2018]
Новый ГОСТ по термоанализу полимерных материалов
Читать далее»
[07.05.2018]
ИК приставка внешнего отражения ConservatIR
Читать далее»
[27.04.2018]
Online конференция по материаловедению 16 мая 2018 г.
Читать далее»
[26.04.2018]
Прием заявок на курс по термоанализу 05-08 июня 2018 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[30.03.2018]

Вебинар по оптической профилометрии

Вебинар по оптической профилометрии

Приглашаем специалистов по исследованию поверхности принять участие в вебинаре 12 апреля, в четверг, в 11.00 (мск) «Технология ZDot: оптическая профилометрия без ограничений».

Вебинар посвящен уникальной запатентованной технологии ZDot, которая позволяет снять традиционные ограничения использования оптической профилометрии и при этом получить полноцветное изображение поверхности материалов. В ходе вебинара будет подробно рассмотрена сама технология, многочисленные примеры ее применения, а также оборудование на основе данной технологии (производитель – Zeta Instruments, подразделение KLA-Tencor).

Данный вебинар будет интересен специалистам по исследованиям и разработке новых материалов, в том числе в микроэлектронике, инженерам и метрологам производства светодиодов, солнечных модулей, МЭМС, печатных плат и т.д.

В отличие от обычных оптических профилометров-интерферометров, профилометры на основе технологии ZDot позволяют эффективно работать с:

  • прозрачными и многослойными пленками и покрытиями
  • материалами с низкой отражающей способностью и низким контрастом
  • материалами с высокими значениями шероховатости
  • материалами с большими перепадами высот
  • глубокими канавками и отверстиями с высоким аспектным отношением

Посетите наш вебинар, чтобы узнать, как!

Регистрация на вебинар » 

Вебинар проведет Неудачина Вера Сергеевна, руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур», к.х.н.

Узнать больше о 3D оптических профилометрах Zeta Instruments »


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design