На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Двухдневный семинар INTERTECH Corporation в Москве

Последние новости
[20.09.2017]
Свидетельство об утверждении типа средств измерений на новые модели ДСК ТА Instruments
Читать далее»
[04.09.2017]
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (в Казахстане)
Читать далее»
[17.08.2017]
Регистрация на семинар по ИК спектроскопии
Читать далее»
[10.08.2017]
Синхронный термоанализатор нового поколения Discovery SDT 650
Читать далее»
[02.08.2017]
Семинар по ИК спектроскопии в Москве 18 сентября 2017 г.
Читать далее»
[24.07.2017]
Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.
Читать далее»
[21.07.2017]
Настольные ЯМР спектрометры picoSpin 45 / 80 series II
Читать далее»
[18.07.2017]
Семейство ИК-Фурье спектрометров Nicolet Thermo Scientific
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[18.02.2013]

Двухдневный семинар INTERTECH Corporation в Москве

Уважаемые дамы и господа!

Приглашаем Вас принять участие в двухдневном научно-практическом семинаре компании INTERTECH Corporation "Современное научное и аналитическое оборудование", который состоится 10-11 апреля 2013г. по адресу: г. Москва, ул. Смоленская д.5, Golden Ring Hotel, 1 эт. конференц-зал "Ярославль".

10 апреля 2013г. - день докладов по направлениям "Элементный анализ" и "Термический анализ".

  • Элементный анализ: атомно-эмиссионные спектрометры с индуктивно связанной плазмой; квадрупольные масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой; атомно-абсорбционные спектрометры.
  • Термический анализ: дилатометры, термомеханические и динамические анализаторы.

11 апреля 2013г. - день докладов по направлениям "Молекулярный анализ" и "Термический анализ и реология".

  • Молекулярный анализ: ИК-Фурье спектрометры; ИК микроскопы; КР спектрометры и КР микроскопы, БИК-Фурье анализаторы; УФ-Вид. спектрофотометры.
  • Термический анализ и реология: дифференциальные сканирующие калориметры; термогравиметрические анализаторы; микрокалориметры; реометры.

Участие в семинаре - бесплатное.

Для участия в семинаре необходимо заполнить регистрационную форму на каждого участника и отправить ее до 29 марта 2013г. на e-mail marketing@intertech-corp.ru

Регистрационная форма »

Программа мероприятия »

 


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеLIMSКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design