На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

Двухдневный семинар INTERTECH Corporation в Москве

Последние новости
[18.01.2018]
ГОСТ 57988-2017. Композиты полимерные. Термогравиметрический анализ, совмещенный с анализом методом инфракрасной спектроскопии
Читать далее»
[09.01.2018]
Анализ долговременной стабильности моноклональных антител методом изотермической калориметрии
Читать далее»
[26.12.2017]
С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»
[21.12.2017]
Атомно-абсорбционные спектрометры серии iCE 3000
Читать далее»
[19.12.2017]
Спектрофотометры серии Evolution 200 - оптимальное решение для рутинных задач в уф/ видимом диапазоне
Читать далее»
[11.12.2017]
Элементный и изотопный анализ от макроэлементов до ультраследовых концентраций
Читать далее»
[07.12.2017]
Анализ многокомпонентных смесей с помощью OMNIC Specta
Читать далее»
[04.12.2017]
Брошюра по оборудованию для мониторинга и управления технологическими процессами
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
03.07.2018 - 06.07.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
22.05.2018 - 25.05.2018
Курс повышения квалификации по термоанализу
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
24.04.2018 - 26.04.2018
Выставка "Аналитика Экспо 2018"
г. Москва, ВЦ "Сокольники"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[18.02.2013]

Двухдневный семинар INTERTECH Corporation в Москве

Уважаемые дамы и господа!

Приглашаем Вас принять участие в двухдневном научно-практическом семинаре компании INTERTECH Corporation "Современное научное и аналитическое оборудование", который состоится 10-11 апреля 2013г. по адресу: г. Москва, ул. Смоленская д.5, Golden Ring Hotel, 1 эт. конференц-зал "Ярославль".

10 апреля 2013г. - день докладов по направлениям "Элементный анализ" и "Термический анализ".

  • Элементный анализ: атомно-эмиссионные спектрометры с индуктивно связанной плазмой; квадрупольные масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой; атомно-абсорбционные спектрометры.
  • Термический анализ: дилатометры, термомеханические и динамические анализаторы.

11 апреля 2013г. - день докладов по направлениям "Молекулярный анализ" и "Термический анализ и реология".

  • Молекулярный анализ: ИК-Фурье спектрометры; ИК микроскопы; КР спектрометры и КР микроскопы, БИК-Фурье анализаторы; УФ-Вид. спектрофотометры.
  • Термический анализ и реология: дифференциальные сканирующие калориметры; термогравиметрические анализаторы; микрокалориметры; реометры.

Участие в семинаре - бесплатное.

Для участия в семинаре необходимо заполнить регистрационную форму на каждого участника и отправить ее до 29 марта 2013г. на e-mail marketing@intertech-corp.ru

Регистрационная форма »

Программа мероприятия »

 


« вернуться


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design