На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Сканирующая зондовая микроскопия - MFP-3D™ Origin

Производители
Asylum Research

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
11.02.2019 - 19.02.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Красноярск, Сибирское ПГО
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


MFP-3D™ Origin


Производитель: Asylum Research
MFP-3D™ Classic
Увеличить

 

"The best place to start with Atomic Force Microscopy"
"Лучшее решение, чтобы начать работать с атомно-силовой микроскопией"

  Asylum Research Inc.

Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать образцы большого размера и предоставляют широчайший набор методик и опций для работы с твердотельными образцами, полимерами и биологическими объектами, как на воздухе, так и в жидкости. Микроскопы MFP-3D обеспечат высочайшую точность и результативность Ваших исследований.

Семейство MFP-3D включает несколько моделей, разработанных для удовлетворения разносторонних запросов пользователей:

  • MFP-3D Infinity: флагман семейства микроскопов MFP-3D. Он вобрал все лучшее от MFP-3D Classic но оснащен новой быстрой электроникой и прецизионной механикой. Подробнее…
  • MFP-3D Classic: производительность и универсальность для среднего бюджета. Исследование образцов большого размера, широкий набор методик и опций. Подробнее…
  • MFP-3D-BIO: АСМ для исследований биологических объектов, сочетающий молекулярное разрешение АСМ с инвертированной оптической микроскопией. Подробнее…
  • MFP-3D Origin: упрощенная версия микроскопа MFP-3D для небольшого бюджета. Допускает последующий апгрейд до полноценного MFP-3D Classic или BIO с полным набором опций.

Технические особенности MFP-3D Origin

MFP-3D Origin− Упрощенная версия микроскопа MFP-3D, допускающая последующий апгрейд до полноценного MFP-3D Classic или BIO с полным набором опций и приставок. Микроскоп прекрасно подойдет не только для работы начинающих пользователей, но и для профессионалов, круг научных задач которых на настоящий момент точно определен, а бюджет ограничен.

Система регистрации отклонения кантилевера реализована с использованием низкокогерентного суперлюминесцентного диода (SLD), что позволяет избежать артефактов, связанных с интерференцией оптического сигнала. Оптическая система с десятикратным увеличением позволяет наблюдать сверху за зондом и образцом.

Основные характеристики Z сканнера:

  • Диапазон перемещения: 15 (40*) мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
  • Уровень шума датчиков: не более 0,25 нм  (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц); нелинейность: не более 0,05% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи);
  • Уровень шума сканнера: не более 50 пм  (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц).

Основные характеристики XY сканнера:

  • Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать  стандартные предметные и покровные стекла;
  • Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
  • Уровень шума датчиков: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц);
  • Нелинейность: не более 0,5% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи).

Также вы можете ознакомиться с галереей изображений, полученных на микроскопах MFP-3D.


Методики СЗМ микроскопа MFP-3D Origin

Стандартные:

  • контактный режим (contact mode);
  • метод латеральных сил (LFM);
  • режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера;
  • Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности;
  • электро-силовая микроскопия (EFM);
  • метод зонда кельвина (KPFM);
  • магнитно-силовая микроскопия (MFM);
  • микроскопия пьезо-отклика (PFM);
  • силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме;
  • MicroAngelo - нанолитография и наноманипулирование;
  • сканирование в жидкости;

Опциональные режимы:

  • микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении;
  • AM-FM Viscoelastic Mapping Mode;
  • iDrive - магнитное возбуждение колебаний кантилевера для сканирования в жидкости
  • сканирующая туннельная микроскопия (STM);
  • сканирующая тепловая микроскопия (SThM);


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design