На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры РФЭ и Оже-спектрометры Нано-ИК и нано-ТА Сканирующая зондовая микроскопия Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Оптические и стилусные профилометры - Стилусный профилометр Alpha-Step IQ

Производители
KLA-Tencor

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Стилусный профилометр Alpha-Step IQ


Производитель: KLA-Tencor
Alpha-Step IQ

 

Стилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является идеальной для экспериментальных линий производств и изучения новых материалов.

Благодаря высокой повторяемости при измерении вертикальных ступенек на образце (7,5 ангстрем или 0,1% от номинальной величины) и суб-ангстремному разрешению сканирования Alpha-Step IQ позволяет добиваться отличной воспроизводимости измерений и иметь в распоряжении мощные инструменты управления и мониторинга процессов сканирования.

Стилусный профилометр Alpha-Step IQ предоставляет собой двухкоординатную установку для исследования топографии широкого спектра поверхностей в том числе слоистых материалов, микроэлектромеханических систем, керамических материалов,  миниатюрных линз, жестких дисков и дисплеев. Профилометры представленного поколения имеют в своем арсенале значительно более быстрый и производительный процессор, чем устройства предыдущего поколения, что позволяет применять Alpha-Step IQ для сетевой работы и подключать его через интерфейс USB.

Преимущества Alpha-Step IQ:

  • Расширенные возможности для анализа 2D топографии;
  • Удобная система позиционирования на образце;
  • Отличная воспроизводимость результатов исследования;
  • Высокая точность определения толщины тонких пленок и покрытий, микронеровностей поверхности, определение несплошности и нарушений регулярности покрытий из тонких пленок;
  • Широкий диапазон измерений по вертикали - позволяет проводить исследование поверхности с значительным перепадом высот рельефа - проводить макроанализ поверхности;
  • Возможность анализа "по шаблону", предварительно загруженному пользователем;
  • Визуализация хода измерений и возможность полного контроля над каждой стадией;

Дополнительные опции Alpha-Step IQ:

  • Расширение диапазона измерений по вертикали (с 550 мкм до 2 мм) позволяет значительно расширить спектр применений системы Alpha-Step IQ;
  • Расширение перечня анализируемых параметров поверхности с 27 до 48, что позволяет получать значительно больше информации о свойствах поверхности;
  • Оптическая системы с высоким коэффициентом увеличения позволяет получать изображения анализируемых поверхностей с высоким разрешением и мелким масштабом;
  • Цветная видеокамера с цифровым зумом;
  • Пакет статистического анализа позволяет осуществлять более тщательный анализ поверхности за счет набора таблиц данных, построения зависимостей параметров и гистограм, а так же других инструментов;
  • Программное обеспечение для офлайн анализа данных позволяет увеличить производительность обследования за счет анализа информации на удаленном компьютере и освобождения ресурсов основного компьютера для измерений;
  • Программное обеспечение для формирования иллюстрированных отчетов;
  • Широкий набор стилусов с различными радиусами закругления наконечников для различных применений.

    Основные области применения:

    • Исследование толщины поверхностных пленок;
    • Определение глубины травления;
    • Микроэлектромеханические системы;
    • Оптоэлектроника;
    • Исследование керамических материалов;
    • Промышленная обработка материалов;
    • Хранение данных.


    Назад


    О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
    Тел/факс:(495)232-4225
    E-mail:
    Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design