Оптические и стилусные профилометры - Стилусный профилометр P-7

Стилусный профилометр P-7

 Стилусный профилометр P-7

Обновление в линейке стилусных профилометров P-серии. Принципиально прибор остался прежним и относится к классу контактных (механических или стилусных) профилометров.

Принцип их действия заключается в том, что алмазный стилус перемещается по поверхности, отслеживая рельеф. Сигнал о положении стилуса на поверхности оцифровывается и преобразуется в 2D или 3D картинку.

Популярность у пользователей стилусного профилометров P-серии и в особенности Р-7 строится на использовании передовых разработок компании KLA-Tencor – программного управления предметным столом, малошумящего измерительного тракта, а так же высокой разрешающей способности и размеров получаемых изображений. Все перечисленные характеристики приятно совмещаются с экономичной ценой прибора.

Исключительная точность анализа поверхности, возможность для осуществления которого предоставляет профилометр P-7, позволяет добиваться лучшего соотношения цена/качество среди всех производителей, доступных на рынке.

Три различные измерительные головки, доступные для этого прибора, обеспечивают гибкость измерения топографии поверхности в широких диапазонах вертикального перемещения, а интуитивно понятный интерфейс делает работу на приборе простой и понятной для пользователя.

 Стилусный профилометр P-7 обладает выдающимися характеристиками, что делает его очень мощным инструментом для таких областей применения как:

• Разработка процессов производства и контроля научных исследований;

• Производство фотоэлектрических элементов;

• Производство устройств хранения данных;

• Производство микроэлектромеханических систем;

• Оптоэлектроника;

• Прочие применения промышленной метрологии высокоточных производств. 

Основными приложениями для стилусного профилометра P-7 являются:

• Измерение толщины и шероховатости тонких пленкок и покрытий;

• Исследование структуры пластичных материалов (возможно за счет приложения переменного усилия к стилусу, использования емкостного датчика положения, а так же сменных стилусов);

• Измерение глубины травления;

• Вычисление более чем 40 различных параметров поверхности, в том числе шероховатость, плоскопараллельность, макрорельеф с помощью программного обеспечения для анализа пиков;

• Расчет параметров топологии поверхности по данным измерений и преобразование результата в 3D модель. В качестве опции предлагается офлайн анализ данных, позволяющий производить анализ без влияния на производительность;

• Измерение напряжений в тонких пленках (позволяет оптимизировать процессы для предотвращения появления трещин или нарушений адгезии);

• Выявление дефектов поверхности. Продвинутые характеристики системы выявления дефектов позволяют добавлять модели дефектов, созданные пользователем. Даже самые маленькие дефекты в случае их обнаружения могут быть перемещены в центр сканируемой области, оптимизируя тем самым процесс обследования и анализа дефектов.