На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометры РФЭ и Оже-спектрометры Нано-ИК и нано-ТА Сканирующая зондовая микроскопия Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности Зонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - Theta 300

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Theta 300


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения:  Микроэлектроника
Материаловедение
Анализ покрытий
Нанолитография
Общий вид системы Theta 300
Увеличить

За счет использования революционной технологии Theta 300 позволяет проводить следующие типы неразрушающих исследований поверхности:

  • Доза
  • Чистота
  • Распределение химических состояний по поверхности
  • Толщина слоёв
  • Однородность слоёв (включая скрытые, подповерхностные слои)
  • Химический состав

Основные области применения:

  • High - k диэлектрики
  • Low - k диэлектрики
  • Барьерные слои
  • Примеси, имплантированные на микроскопическом уровне
  • Металлические затворы
  • Самоорганизующиеся слои
  • SiGe
  • Контактные площадки 

Чем может помочь метод РФЭС?

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) позволяет проводить анализ химических состояний на поверхности твёрдых материалов. Анализ образцов крупных размеров позволяет контролировать однородность полноразмерных полупроводниковых пластин.

Система позволяет проводить неразруша.ющий анализ сверхтонких покрытий (толщиной до 10 нм) с разрешением по глубине 0.1 нм, используя запатентованную технологию PARXPS (такая же система использована в приборе Theta Probe).

Для более толстых плёнок (до 2 мкм) используется система травления пучком ионов, которая позволяет проводить послойный анализ методом РФЭС для построение профилей распределения концентраций на большие глубины.

 


Назад


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design